FIB-SEM

Etusivu » SEM - Elektroni­mikroskoopit » FIB-SEM

Tescan FIB-SEM

Tescanin FIB-SEM laitteistojen sarjaan kuuluu neljä eri kokoonpanoilla olevaa elektronimikroskooppia. Näistä neljästä kaksi pohjautuu CLARA FEG-SEM elektronimikroskooppiin ja kaksi pohjautuu vastaavasti MAGNA FEG-SEM elektronimikroskooppiin.

Tavallisen FEG-SEM ja FIB-SEM elektronimikroskoopin erottaa FIB-SEM laitteistoihin liitettävä ionitykki. Ionitykin avulla näytettä voidaan työstää, eli toisin sanoen näytteen pintaa voidaan “pommittaa” korkeaenergisillä ioneilla, jotka poistavat näytteen pinnasta materiaalia. Tämän ominaisuuden avulla näytteestä voidaan saada enemmän tietoa pintaa syvemmältä. Tescanin FIB-SEM laitteistot ovat erinomaisia muun muassa materiaalitutkimuksessa, biotieteissä sekä puolijohdeteollisuudessa.

FIB-SEM elektronimikroskooppeja on kahdella erilaisella ionisuihku vaihtoehdolla. Gallium ionisuihkua hyödyntää Tescanin elektronimikroskoopeista AMBER ja SOLARIS. Xenon ionisuihku on käytössä AMBER X ja SOLARIS X malleissa. Lisätietoa näistä malleista voit lukea alta. AMBER ja AMBER X elektronimikroskoopit pohjautuvat CLARA sarjan FEG elektronimikroskooppiin ja SOLARIS sekä SOLARIS X taas MAGNA sarjan FEG elektronimikroskooppiin.

Kysy lisää

Näytetään kaikki 4 tulosta

Tescan AMBER ja AMBER X ovat FIB-SEM malleja, jotka on kehitetty CLARA FEG-SEM laitteiston ympärille. Tescanin BrightBeam™ teknologia yhdistettynä elektronikolumnin sisällä oleviin in-beam elektronidetektoreihin mahdollistaa hyvinkin haastavien näytteiden kuvaamisen erittäin hyvällä resoluutiolla, jopa hyvinkin alhaisilla kiihdytysjännitteillä. Lisäksi kolumnin sisällä oleva multidetektori mahdollistaa elektronien suodattamisen niiden emittoitumiskulman ja energian perusteella, jolloin voidaan parantaa näytteestä saatavaa topografia- ja koostumusinformaatiota.

Tescan SOLARIS ja SOLARIS X ovat taas FIB-SEM malleja, jotka perustuvat MAGNA FEG-SEM elektronimikroskooppiin. Tescanin Triglav™ teknologia immersiolinsseillä yhdistettynä elektronikolumnin sisällä oleviin in-beam elektronidetektoreihin, mahdollistaa erittäin korkean resoluution kuvantamisen ei-magneettisten näytteiden kanssa. Immersiolinssit pystytään kytkemään pois päältä, jolloin myös magneettisten näytteiden kuvaaminen onnistuu hieman heikommalla resoluutiolla.

SOLARIS ja AMBER FIB-SEM elektronimikroskoopissa hyödynnetään fokusoitua Ga-ionisädettä, joka muodostetaan Orage™ ionitykin avulla. Orage™ ionitykin avulla päästään fokusoidun ionisäteen resoluutiossa jopa 2,5nm 30keV jännitteellä.

SOLARIS X ja AMBER X FIB-SEM elektronimikroskoopissa hyödynnetään fokusoitua Xe-ionisädettä, joka muodostetaan  i-FIB™ ionitykin avulla. Ionisäteen resoluutio i-FIB™ ionitykillä on jopa alle 12nm 30keV jännitteellä.

Ota yhteyttä, neuvomme mielellämme!

Finfocus Instruments Oy tuo maahan, myy ja huoltaa laitteita metallien, muiden materiaalien ja maaperän analysointiin, mittaamiseen, tutkimiseen sekä näytteiden käsittelyyn. Laitetoimitukseen sisältyy aina käyttökoulutus.

Finfocus Instruments Oy

Hiomotie 32
00380 Helsinki
info@finfocus.fi
010 328 9980

 

luotettava kumppani logo

tescan logo nenovision logo

quorum logo

metkon logo

 

 

Copyright © 2024 Finfocus Instruments Oy