Kannettavaa XRF-analysaattoria voidaan käyttää monissa eri sovelluksissa. Sillä voidaan esimerkiksi
Analysoitavat näytteet voivat olla kiinteitä, nesteitä tai jauheita.
Pöytämallinen XRF- analysaattori soveltuu esimerkiksi
Showing all 6 results
Kannettavien X-MET -analysaattorien historia on Suomessa pitkä. Se suunniteltiin 1960-70 -luvuilla Outokumpu Oy:n malminetsinnän tarpeisiin. Vuodesta 1994 eteenpäin Metorex International Oy jatkoi X-MET -analysaattoreiden kehittämistä, kunnes 2004 XRF-analysaattorit myytiin Oxford Instrumentsille. Vuonna 2017 Hitachi High-Tech osti X-METit muiden Oxford Instrumentsin XRF-, OES ja LIBS-analysaattoreiden mukana.
Analysaattoreiden tuotekehitys ja tutkimus jatkuu edelleen Hitachin toimipaikassa Espoossa, osana Hitachin maailmanlaajuista organisaatiota.
X-MET 8000 Smart, Optimum ja Expert soveltuvat erilaisten metallilaatujen ja muiden kiinteiden materiaalien, jauheiden sekä nesteiden alkuainepitoisuuksien analysointiin. X-MET8000 voidaan kalibroida lähes mihin tahansa sovellukseen, jos asiakkaalta löytyy sovellukseen sopiva kalibrointinäytesarja.
X-MET 8000 GEO on suunniteltu erityisesti maaperänäytteiden (PIMA) ja kaivos-/malminäytteiden (Mining) analysointiin. Raskaille alkuaineille määritysrajat ovat muutamasta ppm:stä (mg/kg) kymmeniin ppm:iin, kevyiden alkuaineiden (Mg, Al, Si…) määritysrajat ovat korkeammat.
X-MET 8000 CG on RoHS-mittauksiin soveltuva analysaattori, jossa on valmis tulosformaatti RoHS-direktiivin määrittämien haitallisten alkuaineiden (Pb, Cd, Hg, Br ja Cr) raja-arvoille.
Lab-X analysaattoreita on käytetty vuosikymmeniä mm. öljyn ja dieselin analysoinnissa sekä paperitehtaiden laadunvalvonnassa. Oxfordilla on pitkä historia XRF-tekniikkaan perustuvissa pöytälaitteissa. Nykyisin pöytälaitteita kehittää Hitachi. Uusin pöytälaitemalli on Lab-X5000. Se analysoi yhden näytteen kerrallaan. Useamman näytteen analysointi kerrallaan onnistuu X-Supremella, siinä on 10-paikkainen näytetarjotin.
X-Strata 920 on erilaisten pinnoitteiden (myös monikerrospinnoitteet) analysointiin soveltuva XRF-analysaattori. Useimmat pinnoitteet saa analysoitua ennen toimitusta tehtaalla tehdyillä tehdaskalibroinneilla, eli laite on saapuessaan heti käyttövalmis. Tyypillisiä käyttökohteita ovat esimerkiksi metalli- ja muoviosien sekä elektroniikkateollisuuden komponenttien yksi- ja monikerrospinnoitteiden analysointi. Laitteella voidaan analysoida pinnoitekerroksien paksuudet ja alkuainekoostumus.
Kaikki Hitachin XRF-analysaattorit voidaan helposti kalibroida asiakkaan omalla kalibrointinäytesarjalla. Kalibrointiin tarvitaan sovelluksesta riippuen vähintään kuusi alkuainepitoisuuksiltaan tunnettua näytettä. Kalibrointiohjelma huomioi monia tekijöitä, esimerkiksi näytematriisin mahdollisen vaihtelun ja kiinnostavia alkuaineita mahdollisesti häiritsevät alkuaineet. Koulutuksen jälkeen kalibrointiohjelmistoja helppo käyttää. Asiakkaan omalla kalibrointinäytesarjalla tehdyllä kalibroinnilla saavutetaan usein paras mahdollinen analyysitarkkuus.
Ota yhteyttä asiantuntijaamme, niin etsitään tarpeisiisi sopivin analysaattori!
Finfocus Instruments Oy tuo maahan, myy ja huoltaa laitteita metallien, muiden materiaalien ja maaperän analysointiin, mittaamiseen, tutkimiseen sekä näytteiden käsittelyyn. Laitetoimitukseen sisältyy aina käyttökoulutus.
Finfocus Instruments Oy
Hiomotie 32
00380 Helsinki
info@finfocus.fi
010 328 9980