XRF-, LIBS- ja OES-analysaattorit (pöytämalliset ja kannettavat) materiaalien alkuainekoostumuksen määrittämiseen. Lisäksi kauttamme on saatavilla EDS-detektoreja SEM-laitteistoihin liitettäväksi.

Laaja valikoima Tescanin elektronimikroskooppeja (W-SEM, FEG-SEM sekä FIB-SEM) materiaalien tutkimiseen ja analysointiin. Lisäksi meiltä saat Quorum Technologiesin pinnoitus- ja sputterointilaitteet näytteenvalmistukseen.

Tuotevalikoimastamme löydät NenoVisionin laadukkaat atomivoimamikroskoopit sekä Imina Technologiesin mikro- ja nanokoestuslaitteistot (micro- ja nanoprobing).

Valikoimastamme löydät laadukkaat Innovatestin valmistamat kovuus-, pinnanpaksuus- ja pinnankarheusmittarit sekä Metkonin valmistamat muovitus-, hionta-, kiillotus- ja katkaisulaitteet.