Tuotteemme

Alkuaineanalyysi

XRF-, LIBS- ja OES-analysaattorit (pöytämalliset ja kannettavat) materiaalien alkuainekoostumuksen määrittämiseen. Lisäksi kauttamme on saatavilla EDS-detektoreja SEM-laitteistoihin liitettäväksi.

Tutustu
Elektronimikroskopia

Laaja valikoima Tescanin elektronimikroskooppeja (W-SEM, FEG-SEM sekä FIB-SEM) materiaalien tutkimiseen ja analysointiin. Lisäksi meiltä saat Quorum Technologiesin pinnoitus- ja sputterointilaitteet näytteenvalmistukseen.

Tutustu
Pintaa koestavat menetelmät

Tuotevalikoimastamme löydät Oxford Asylumin laadukkaat atomivoimamikroskoopit sekä Imina Technologiesin mikro- ja nanokoestuslaitteistot (micro- ja nanoprobing).

Tutustu
Metallografia ja näytteen valmistus

Valikoimastamme löydät laadukkaat Innovatestin valmistamat kovuus-, pinnanpaksuus- ja pinnankarheusmittarit sekä Metkonin valmistamat muovitus-, hionta-, kiillotus- ja katkaisulaitteet.

Tutustu

FINFOCUS INSTRUMENTS OY

Finfocus Instruments Oy tuo maahan laitteita metallien, muiden materiaalien ja maaperän analysointiin, mittaamiseen, tutkimiseen sekä näytteiden käsittelyyn.

Meille on ensisijaisen tärkeää, että asiakkaamme saavat parhaan mahdollisen käyttökokemuksen ostamistaan tuotteista. Vastaamme kaikkien myymiemme laitteiden huollosta ja käyttäjien koulutuksesta sekä tuesta. Tarjoamme asiakkaan tarpeiden mukaisen koulutuksen ja jatkuvan käyttäjätuen. Lisäksi vastaamme myymiemme laitteiden huollosta.

Alkuaineanalysaattoreiden käyttökohteet

Elektronimikroskooppien käyttökohteet

UUTISET

Finfocus solminut jälleenmyyntisopimuksen IMINA Technologiesin kanssa

IMINA valmistaa kauko-ohjattavia nano- ja mikromanipulaattoreita SEM-laitteistoihin liitettäväksi

Finfocuksen toiminta poikkeustilan aikana

Tavara liikkuu. Asiakastuki, tapaamiset ja koulutukset hoidetaan etäyhteyksin.

Kiitos osallistumisesta Finfocuksen SEM ja AFM -päiville 2020

Finfocuksen SEM ja AFM -päivät on saatu onnistuneesti päätökseen, kiitos!