010 328 9980
Kiitos osallistumisesta Finfocuksen SEM ja AFM -päiville 2020
Finfocuksen SEM ja AFM -päivät on saatu onnistuneesti päätökseen, kiitos!
Tuotteemme
XRF-, LIBS- ja OES-analysaattorit (pöytämalliset ja kannettavat) materiaalien alkuainekoostumuksen määrittämiseen.
TutustuLaaja valikoima Tescanin SEM, FEG-SEM, FIB-SEM ja Oxford Instrumentsin AFM –laitteistoja materiaalien tutkimiseen ja analysointiin.
TutustuTuotevalikoimassa manuaalisia perusmittareita, sekä puoliautomaattisia ja täysin automaattisia kovuusmittareita.
TutustuNäytteiden ja hieiden valmistukseen: Metkon katkaisulaitteet, kiillotus-/hiontalaitteet ja muovituslaitteet sekä Akasel -tarvikkeet.
TutustuFinfocus Instruments Oy tuo maahan laitteita metallien, muiden materiaalien ja maaperän analysointiin, mittaamiseen, tutkimiseen sekä näytteiden käsittelyyn.
Meille on ensisijaisen tärkeää, että asiakkaamme saavat parhaan mahdollisen käyttökokemuksen ostamistaan tuotteista. Vastaamme kaikkien myymiemme laitteiden huollosta ja käyttäjien koulutuksesta sekä tuesta. Tarjoamme asiakkaan tarpeiden mukaisen koulutuksen ja jatkuvan käyttäjätuen. Lisäksi vastaamme myymiemme laitteiden huollosta.
Alkuaineanalysaattoreiden käyttökohteet
Elektronimikroskooppien käyttökohteet
Finfocuksen SEM ja AFM -päivät on saatu onnistuneesti päätökseen, kiitos!
Kiinnostaako kuvantaminen? Tule tutustumaan SEM ja AFM -laitteisiin! Samalla kuulet laitteiden toimintaperiaatteista ja viimeisimmistä laiteratkaisuista. Tervetuloa!
