010 328 9980
Muutimme maaliskuussa
Tuotteemme
XRF-, LIBS- ja OES-analysaattorit (pöytämalliset ja kannettavat) materiaalien alkuainekoostumuksen määrittämiseen.
TutustuLaaja valikoima SEM, FEG-SEM, FIB-SEM –laitteistoja materiaalien tutkimiseen ja analysointiin.
Meiltä myös kulutustarvikkeet ja pinnoituslaitteet.
TutustuRockwell-, Vickers- ja Brinell-kovuusmittarit, myös kannettavat ultraääni-, Leeb- ja Shore-kovuusmittarit. Pinnankarheuden ja kalvon paksuuden mittarit.
TutustuNäytteiden ja hieiden valmistukseen: Metkon katkaisulaitteet, kiillotus-/hiontalaitteet ja muovituslaitteet sekä Akasel -tarvikkeet.
TutustuFinfocus Instruments Oy tuo maahan laitteita metallien, muiden materiaalien ja maaperän analysointiin, mittaamiseen, tutkimiseen sekä näytteiden käsittelyyn.
Meille on ensisijaisen tärkeää, että asiakkaamme saavat parhaan mahdollisen käyttökokemuksen ostamistaan tuotteista. Vastaamme kaikkien myymiemme laitteiden huollosta ja käyttäjien koulutuksesta sekä tuesta. Tarjoamme asiakkaan tarpeiden mukaisen koulutuksen ja jatkuvan käyttäjätuen. Lisäksi vastaamme myymiemme laitteiden huollosta.
Alkuaineanalysaattoreiden käyttökohteet
Elektronimikroskooppien käyttökohteet
