Finfocus Instruments Oy Kirjaudu
Alkuaineanalysaattoreiden Käyttökohteet Kierrätysmateriaalien analyysi ja luokittelu PMI & Materiaalin tunnistus PIMA/raskasmetallien mittaus RoHS-analyysit Kaivos- ja malmianalyysit
Elektronimikroskooppien käyttökohteet Asbestin analysointi Biologiset näytteet Geologiset näytteet Materiaalitutkimus Puolijohdeteollisuus
Pintaa koestavien menetelmien käyttökohteet AFM - Biotieteet AFM - Elektroniikka AFM - Materiaalitutkimus Nano/Mikromanipulaattori - Elektroniikka Nano/Mikromanipulaattori - Materiaalitutkimus
Alkuaineanalyysi + XRF - analysaattorit
XRF - pöytälaitteet XRF - kannettavat
LIBS/Laser - analysaattorit OES - analysaattorit OES/XRF -näytteenvalmistus
Elektronimikroskopia Tescan SEM / VEGA-laitteet Tescan FEG-SEM Tescan FIB-SEM Quorum pinnoituslaitteet Tarvikkeet
Pintaa koestavat menetelmät Oxford Asylum AFM Imina mikro- ja nanokoestus
Metallografia ja näytteen valmistus + Kovuusmittarit
Rockwell Vickers Brinell Yhdistelmäkovuusmittarit Kannettavat kovuusmittarit Pinnankarheuden mittarit Kalvonpaksuuden mittarit
+ Metallografia
Automaattinen valmistus Katkaisulaitteet Muovituslaitteet Hionta-/kiillotuslaitteet Geologisille näytteille
+ Tarvikkeet näytteenvalmistukseen
+ Katkaisu
+ Katkaisulaikat
150 mm 250 mm 300 mm 350 mm 400 mm 432 mm
Tarvikkeet
+ Hionta
+ Timanttihiontalevyt
200 mm 250 mm 300 mm 350 mm
+ Hiontalevyt
200 mm 250 mm 300 mm 350 mm
+ Akasel hiontapaperit
200 mm 230 mm 250 mm 300 mm 305 mm
+ Hermes hiontapaperit
200 mm 230 mm 250 mm 300mm
Hiomakivet Tarvikkeet
+ Kiillotus
+ Kiillotuskankaat
32 mm 200 mm 250 mm 300 mm 350 mm
Magneettikiinnitys + Timanttisuspensiot
Diamaxx Diadoublo Aka-Mono Aka-Poly Water-free Aka-Poly
Timanttipastat Timanttisprayt Timanttitahnatikut Oksidisuspensiot Voiteluaineet
+ Valuaineet
Kuumavalu Kylmävalu SEM näytteille Tarvikkeet
Yleiset tarvikkeet

Uutisia


Finfocus solminut jälleenmyyntisopimuksen IMINA Technologiesin kanssa
4.5.2020

IMINA valmistaa kauko-ohjattavia nano- ja mikromanipulaattoreita SEM-laitteistoihin liitettäväksi

Kiitos osallistumisesta Finfocuksen SEM ja AFM -päiville 2020
3.2.2020

Finfocuksen SEM ja AFM -päivät on saatu onnistuneesti päätökseen, kiitos!

Finfocuksen SEM ja AFM -päivät 28.1. - 30.1.2020
20.11.2019

Kiinnostaako kuvantaminen? Tule tutustumaan SEM ja AFM -laitteisiin! Samalla kuulet laitteiden toimintaperiaatteista ja viimeisimmistä laiteratkaisuista. Tervetuloa!