Finfocus Instruments Oy Kirjaudu
Elektronimikroskooppien käyttökohteet Asbestin analysointi Materiaalitutkimus Biologiset näytteet Geologiset näytteet
Hieiden valmistus
Alkuaineanalysaattoreiden Käyttökohteet Kierrätysmateriaalien analyysi ja luokittelu PMI & Materiaalin tunnistus PIMA/raskasmetallien mittaus RoHS-analyysit Kaivos- ja malmianalyysit
Hitachi Alkuaineanalysaattorit + XRF - analysaattorit
XRF - pöytälaitteet XRF - kannettavat
LIBS/Laser - analysaattorit OES - analysaattorit
SEM ja AFM -mikroskoopit sekä pinnoituslaitteet AFM SEM / VEGA-laitteet FEG-SEM FIB-SEM Quorum pinnoituslaitteet Tarvikkeet
Innovatest kovuusmittarit Rockwell Vickers Brinell Yhdistelmäkovuusmittarit Kannettavat kovuusmittarit Pinnankarheuden mittarit Kalvonpaksuuden mittarit
Metallografian laitteet ja tarvikkeet Automaattinen valmistus Katkaisulaitteet Muovituslaitteet Hionta-/kiillotuslaitteet Geologisille näytteille OES/XRF -näytteenvalmistus + Tarvikkeet näytteenvalmistukseen
+ Katkaisu
+ Katkaisulaikat
150 mm 250 mm 300 mm 350 mm 400 mm 432 mm
Tarvikkeet
+ Hionta
+ Timanttihiontalevyt
200 mm 250 mm 300 mm 350 mm
+ Hiontalevyt
200 mm 250 mm 300 mm 350 mm
+ Akasel hiontapaperit
200 mm 230 mm 250 mm 300 mm 305 mm
+ Hermes hiontapaperit
200 mm 230 mm 250 mm 300mm
Hiomakivet Tarvikkeet
+ Kiillotus
+ Kiillotuskankaat
32 mm 200 mm 250 mm 300 mm 350 mm
Magneettikiinnitys + Timanttisuspensiot
Diamaxx Diadoublo Aka-Mono Aka-Poly Water-free Aka-Poly
Timanttipastat Timanttisprayt Timanttitahnatikut Oksidisuspensiot Voiteluaineet
+ Valuaineet
Kuumavalu Kylmävalu SEM näytteille Tarvikkeet
Yleiset tarvikkeet

Uutisia


Kiitos osallistumisesta Finfocuksen SEM ja AFM -päiville 2020
3.2.2020

Finfocuksen SEM ja AFM -päivät on saatu onnistuneesti päätökseen, kiitos!

Finfocuksen SEM ja AFM -päivät 28.1. - 30.1.2020
20.11.2019

Kiinnostaako kuvantaminen? Tule tutustumaan SEM ja AFM -laitteisiin! Samalla kuulet laitteiden toimintaperiaatteista ja viimeisimmistä laiteratkaisuista. Tervetuloa!