Materiaalitutkimus

• Asbestin analysointi
• Biologiset näytteet
• Geologiset näytteet
• Materiaalitutkimus
• Puolijohdeteollisuus

Materiaalitutkimus onnistuu myymillämme laitteilla kätevästi! Asiantuntijamme auttavat mielellään sinua valitsemaan oikean analysaattorin.

Materiaalitutkimuksella tarkoitetaan laaja-alaista erilaisten materiaalien kuten metallien, muovien, keraamien, tekstiilien sekä orgaanisten aineiden tutkimusta. Orgaanisiksi aineiksi voidaan luokitella muun muassa puu ja paperi. Yllämainittujen materiaalien tutkimuksessa hyödynnetään monenlaisia analyysi- ja koeistuslaitteistoja, mutta kun materiaalin hienorakennetta halutaan tutkia visuaalisesti, niin elektronimikroskooppi (SEM, Scanning Electron Microscope) antaa parhaimman tuloksen, sillä elektronimikroskoopilla pystytään havaitsemaan materiaalin pienimmätkin yksityiskohdat jopa nanometrien kokoluokassa.

Materiaalien tutkimuksessa on tärkeää saada tietoa myös alkuainekoostumuksista, sillä monien materiaalien ominaisuudet, niin mekaaniset, kemialliset kuin fysikaalisetkin, vaativat hyvinkin tarkat alkuainepitoisuudet ja alkuainepitoisuuksien pienetkin muutokset voivat aiheuttaa pahimillaan materiaalien ennenaikaisen hajoamisen. Elektronimikroskooppeihin asennettavat alkuaineanalysaattorit, kuten energiadispersiivinen detektori (EDS, Energy Dispersive Spectrometer) tai aallonpituusdispersiivinen detektori (WDS, Wavelength Dispersive Spectrometry) mahdollistavat tarkat alkuainepitoisuus analyysit materiaalien pienimmiltäkin alueilta.

Me Finfocuksella tuomme maahan ja myymme Tescanin elektronimikroskooppeja sekä eri laitevalmistajien EDS-analysaattoreita. Mikäli näille laitteille on tarvetta, esimerkiksi materiaalitutkimuksessa, niin Finfocuksen asiantuntijat auttavat mielellään.

Tuotteet

TESCAN VEGA4 Compact elektroni­mikroskooppi

• W-SEM
• Korkean vakuumin laitteisto
• Resoluutio:
  3 nm @ 30 keV
  8 nm @ 3 keV

Tutustu tarkemmin

TESCAN VEGA4 elektronimikroskooppi

• W-SEM
• Korkean ja matalan vakuumin laitteisto
• Resoluutio:
  3 nm @ 30 keV
  8 nm @ 3 keV

Tutustu tarkemmin

TESCAN MIRA4 FEG-SEM elektronimikroskooppi

• FEG-SEM
• Korkean ja matalan vakuumin laitteisto
• Resoluutio:
  1,2 nm @ 30 keV,
  3,5 nm @ 1 keV

Tutustu tarkemmin

TESCAN CLARA FEG-SEM elektronimikroskooppi

• FEG-SEM (UHR)
• Korkean ja matalan vakuumin vaihtoehdot
• Resoluutio:
  0,8 nm @ 30 keV
  1,3 nm @ 1 keV

Tutustu tarkemmin

TESCAN MAGNA FEG-SEM elektronimikroskooppi

• FEG-SEM (UHR)
• Korkean ja matalan vakuumin vaihtoehdot
• Resoluutio:
  0,5 nm @ 30 keV
  1,2 nm @ 1 keV

Tutustu tarkemmin

TESCAN AMBER FIB-SEM elektronimikroskooppi

• FIB-SEM (FEG pohjainen)
• Ga FIB kolumni
• Korkean ja matalan vakuumin vaihtoehdot
• Resoluutio:
  0,8 nm @ 30 keV
  1,3 nm @ 1 keV

Tutustu tarkemmin

TESCAN AMBER X FIB-SEM elektronimikroskooppi

• FIB-SEM (FEG pohjainen)
• Xe FIB kolumni
• Korkean ja matalan vakuumin vaihtoehdot
• Resoluutio:
  0,8 nm @ 30 keV
  1,3 nm @ 1 keV

Tutustu tarkemmin

TESCAN SOLARIS FIB-SEM elektronimikroskooppi

• FIB-SEM (FEG pohjainen)
• Ga FIB kolumni
• Korkean ja matalan vakuumin vaihtoehdot
• Resoluutio:
  0,5 nm @ 30 keV
  1,2 nm @ 1 keV

Tutustu tarkemmin

TESCAN SOLARIS X FIB-SEM elektronimikroskooppi

• FIB-SEM (FEG pohjainen)
• Xe FIB kolumni
• Korkean ja matalan vakuumin vaihtoehdot
• Resoluutio:
  0,5 nm @ 30 keV
  1,2 nm @ 1 keV

Tutustu tarkemmin

TESCAN TIMA FEG-SEM elektronimikroskooppi

• FEG-SEM
• Korkean ja matalan vakuumin vaihtoehdot
• Resoluutio:
  1,2 nm @ 30 keV
  3,5 nm @ 1 keV

Tutustu tarkemmin