Finfocus Instruments Oy Kirjaudu
Alkuaineanalysaattoreiden Käyttökohteet Kierrätysmateriaalien analyysi ja luokittelu PMI & Materiaalin tunnistus PIMA/raskasmetallien mittaus RoHS-analyysit Kaivos- ja malmianalyysit
Elektronimikroskooppien käyttökohteet Asbestin analysointi Biologiset näytteet Geologiset näytteet Materiaalitutkimus Puolijohdeteollisuus
Pintaa koestavien menetelmien käyttökohteet AFM - Biotieteet AFM - Elektroniikka AFM - Materiaalitutkimus Nano/Mikromanipulaattori - Elektroniikka Nano/Mikromanipulaattori - Materiaalitutkimus
Alkuaineanalyysi + XRF - analysaattorit
XRF - pöytälaitteet XRF - kannettavat
LIBS/Laser - analysaattorit OES - analysaattorit OES/XRF -näytteenvalmistus
Elektronimikroskopia Tescan SEM / VEGA-laitteet Tescan FEG-SEM Tescan FIB-SEM Quorum pinnoituslaitteet Tarvikkeet
Pintaa koestavat menetelmät NenoVision LiteScope AFM Imina mikro- ja nanokoestus
Metallografia ja näytteen valmistus + Kovuusmittarit
Rockwell Vickers Brinell Yhdistelmäkovuusmittarit Kannettavat kovuusmittarit Pinnankarheuden mittarit Kalvonpaksuuden mittarit
+ Metallografia
Automaattinen valmistus Katkaisulaitteet Muovituslaitteet Hionta-/kiillotuslaitteet Geologisille näytteille
+ Tarvikkeet näytteenvalmistukseen
Katkaisu Hionta Kiillotus Valuaineet Yleiset tarvikkeet

In English

We are working on English version...