- Asbestin analysointi
- Biologiset näytteet
- Geologiset näytteet
- Materiaalitutkimus
- Puolijohdeteollisuus
Puolijohdenäytteiden analysointi onnistuu myymillämme laitteilla kätevästi! Asiantuntijamme auttavat mielellään sinua valitsemaan oikean analysaattorin.
Puolijohdeteollisuus on elektroniikkateollisuuden kulmakivi. Ilman puolijohdeteollisuudet uraa uurtavia saavutuksia elektroniikan kehitys ei olisi ollut mahdollista siinä mittakaavassa missä se nyt näyttäytyy. Laitteistojen koko on pienentynyt ja niiden teho on kasvanut samassa ellei jopa hurjemmassa suhteessa. Laitteistojen pienenemisen sekä tehon kasvun on mahdollistanut puolijohdeteollisuudessa valmistettavien komponenttien pienentyminen, mikä myös osaltaan mahdollistaa komponenttien määrän kasvun laitteessa.
Tänä päivänä puolijohdeteollisuudessa valmistettavien ja tutkittavien komponenttien rakenteita mitataan nanometriluokassa. Tällaisten komponenttien valmistus ja tutkimus vaatii pitkälle kehitettyjä työkaluja sekä mitta- että tutkimuslaitteistoja. Tämä tarkoittaa sitä, että tutkimuslaitteistolta vaaditaan äärimmäistä kykyä, kuten resoluutiota, havainnoida rakenteiden ja materiaalien ominaisuuksia.
Me Finfocuksella tuomme maahan ja myymme elektronimikroskooppeja sekä eri laitevalmistajien EDS-analysaattoreita. Mikäli näille laitteille on tarvetta, esimerkiksi puolijohdeteollisuudessa, niin Finfocuksen asiantuntijat auttavat mielellään.
Tuotteet

Coxem EM-30 pöytämallinen elektronimikroskooppi (SEM)
- Filamentti: W
- Resoluutio: <5nm
- Näytepöytä: X: 35mm, Y: 35mm, tilt: 0-45°
- Kuvausmoodit: High Vacuum ja Low Vacuum

Coxem EM-40 pöytämallinen elektronimikroskooppi (SEM)
- Filamentti: W
- Resoluutio: <5nm
- Näytepöytä: X: 40mm, Y: 40mm, Z:40mm, moottoroitu XYZ
- Kuvausmoodit: High Vacuum, Low Vacuum ja Variable Pressure

Coxem CX-200 lattiamallinen elektronimikroskooppi (SEM)
- Filamentti: W
- Resoluutio: <3nm
- Näytepöytä: X: 60mm, Y: 60mm, Z: 60mm,
Rot: 360º, Tilt: 20 ~ 90º - Kuvausmoodit. High Vacuum, Low Vacuum ja Varible Pressure

Coxem CX-300 lattiamallinen elektronimikroskooppi (SEM)
- Filamentti: W
- Resoluutio: <3nm
- Näytepöytä: X: 100mm, Y: 100mm, Z: 60mm,
Rot: 360º, Tilt: 20 ~ 90º - Kuvausmoodit. High Vacuum, Low Vacuum ja Varible Pressure