Microprobing | Pintaa koestavat menetelmät

Pintaa koestavat ja SEM-yhteensopivat menetelmät

Laitevalikoimastamme löydät NenoVisionin laadukkaat atomivoimamikroskoopit ja Imina Technologiesin mikro- ja nanokoestuslaitteistot (nano- ja microprobing).

NenoVisionin ja Imina Technologiesin laitteet ovat yhteensopivia erilaisten elektronimikroskooppien kanssa ja ne soveltuvat tutkimukseen erinomaisesti.

NenoVisionin atomivoimamikroskooppi LiteScope asennetaan elektronimikroskoopin sisälle ja näyte analysoidaan korrelatiivisesti elektronimikroskoopin ja atomivoimamikroskoopin kanssa. Näytettä ei tarvitse analyysin aikana siirtää, eli näyte ei kontaminoidu eikä sen ominaisuudet muutu.

Iminan valikoimasta löytyy elektronimikroskooppiin asennettavan nanokoestuslaitteiston lisäksi myös tuoteperhe MICRO, jota käytetään valomikroskooppien kanssa. MICRO tuoteperheen laitteet on mahdollista pävittää yhteensopivaksi NANO tuoteperheen kanssa. Silloin ne soveltuvat paremmin elektronimikroskooppikäyttöön ja resoluutiokin paranee.

NenoVision Litescope AFM-in-SEM

Imina MiBOT Mikro- ja nanomanipulaattorit

Näytetään kaikki 4 tulosta

NenoVision LiteScope AFM
- AFM-in-SEM
- Korrelatiivinen SEM ja AFM kuvaus
- Resoluutio (XYZ)
  0,1 nm x 0,1 nm x 0,02 nm
MiBOT NANO Nanomanipulaattori
- SEM yhteensopiva
- Vapaat X, Y, Z, Rot liikeradat
- Resoluutio:
  0,02 nm (X,Y)
  0,1 nm (Z)
MiBOT MICRO Mikromanipulaattori
- Valomikroskooppiin yhteensopiva
- Vapaat X, Y, Z, Rot liikeradat
- Resoluutio:
  50 nm (X,Y)
  120 nm (Z)
Näytealusta ja valomikroskooppi kokonaisuus mikromanipulaattoreille
- Valomikroskooppi mukana
- Näytealusta mukana
- MiBOT MICRO yhteensopiva