Pintaa koestavat menetelmät

Etusivu » Pintaa koestavat menetelmät

Pintaa koestavat ja SEM-yhteensopivat menetelmät

Laitevalikoimastamme löydät NenoVisionin laadukkaat atomivoimamikroskoopit ja Imina Technologiesin mikro- ja nanokoestuslaitteistot (nano- ja microprobing).

NenoVisionin ja Imina Technologiesin laitteet ovat yhteensopivia erilaisten elektronimikroskooppien kanssa ja ne soveltuvat tutkimukseen erinomaisesti.

NenoVisionin atomivoimamikroskooppi LiteScope asennetaan elektronimikroskoopin sisälle ja näyte analysoidaan korrelatiivisesti elektronimikroskoopin ja atomivoimamikroskoopin kanssa. Näytettä ei tarvitse analyysin aikana siirtää, eli näyte ei kontaminoidu eikä sen ominaisuudet muutu.

Iminan valikoimasta löytyy elektronimikroskooppiin asennettavan nanokoestuslaitteiston lisäksi myös tuoteperhe MICRO, jota käytetään valomikroskooppien kanssa. MICRO tuoteperheen laitteet on mahdollista  pävittää yhteensopivaksi NANO tuoteperheen kanssa. Silloin ne soveltuvat paremmin elektronimikroskooppikäyttöön ja resoluutiokin paranee.

NenoVision Litescope AFM-in-SEM

Imina MiBOT Mikro- ja nanomanipulaattorit

Näytetään kaikki 4 tulosta

Finfocus Instruments Oy tuo maahan, myy ja huoltaa laitteita metallien, muiden materiaalien ja maaperän analysointiin, mittaamiseen, tutkimiseen sekä näytteiden käsittelyyn. Laitetoimitukseen sisältyy aina käyttökoulutus.

Finfocus Instruments Oy

Hiomotie 32
00380 Helsinki
info@finfocus.fi
010 328 9980

 

luotettava kumppani logo

nenovision logo

quorum logo

metkon logo

 

 

Copyright © 2024 Finfocus Instruments Oy