Etusivu » Tuotteet » NenoVision LiteScope AFM

NenoVision LiteScope AFM

NenoVisionin LiteScope AFM on suunniteltu toimimaan elektronimikroskoopin kammiossa antaen mahdollisuuden korrelatiiviseen elektronimikroskopiaan (CPEM: Correlative Probe and Electron Microscopy). Tekniikalla on mahdollista helposti yhdistään elektronimikroskoopilta saatu tieto, mukaanlukien alkuainekoostumukset (EDS, WDS) ja atomivoimamikroskoopilta saatu tieto, kuten topografia tai sahköisiä ominaisuuksia.

  • SEM kammioon asennettava
  • Resoluutio XYZ (nm): 0,1 x 0,1 x 0,02
  • Korrelatiivinen mikroskopiatekniikka

 

Valmistaja: NenoVision s.r.o., Czech Republic

Lisätiedot

Ominaisuudet

Esitteet, Videot

Lataa tästä NenoVision LiteScope AFM-laitteiston esite:

NenoVision LiteScope AFM esite

Lisävarusteet

Ota yhteyttä ja kysy lisää tuotteesta

"*" näyttää pakolliset kentät

Käytämme lomakkeen kautta saatuja tietoja palveluidemme tarjoamiseen ja toimittamiseen. Lisätietoja löydät Finfocus Instruments Oy:n tietosuojaselosteesta »
Kenttä on validointitarkoituksiin ja tulee jättää koskemattomaksi.

Finfocus Instruments Oy tuo maahan, myy ja huoltaa laitteita metallien, muiden materiaalien ja maaperän analysointiin, mittaamiseen, tutkimiseen sekä näytteiden käsittelyyn. Laitetoimitukseen sisältyy aina käyttökoulutus.

Finfocus Instruments Oy

Hiomotie 32
00380 Helsinki
info@finfocus.fi
010 328 9980

 

luotettava kumppani logo

nenovision logo

quorum logo

metkon logo

 

 

Copyright © 2024 Finfocus Instruments Oy