NenoVision Litescope AFM-in-SEM

Etusivu » Pintaa koestavat menetelmät » NenoVision Litescope AFM-in-SEM

NenoVision LiteScope AFM-in-SEM

NenoVisionin LiteScope AFM on monipuolinen atomivoimamikroskooppi, joka asennetaan elektronimikroskoopin kammioon. LiteScope on yhteensopiva lähes kaikkien elektronimikroskooppivalmistajien kanssa.

Tutustu Tescanin laitevalikoimaan

Paras suorituskyky saadaan, kun LiteScope AFM -laitteistoa käytetään elektronimikroskoopin kanssa, mutta tarvittaessa sen voi asentaa myös itsenäiseksi pöytälaitteeksi.

LiteScope AFM ja SEM yhdistelmällä (Correlative Probe and Electron Microscopy, CPEM) saadaan näytteestä monipuolista ja kattaavaa tutkimustietoa.  CPEM-menetelmällä tarkoitetaan täsmälleen saman näytekohdan tutkimista kahdella tai useammalla menetelmällä samanaikaisesti.  LiteScope AFM ja SEM -laiteyhdistelmällä CPEM onnistuu helposti ja vaivattomasti siksi, että LiteScope AFM on mahdollista asentaa SEM kammion sisälle.

Kerromme mielellämme lisää, otathan yhteyttä!

Ota yhteyttä

Näytetään ainoa tulos

Finfocus Instruments Oy tuo maahan, myy ja huoltaa laitteita metallien, muiden materiaalien ja maaperän analysointiin, mittaamiseen, tutkimiseen sekä näytteiden käsittelyyn. Laitetoimitukseen sisältyy aina käyttökoulutus.

Finfocus Instruments Oy

Hiomotie 32
00380 Helsinki
info@finfocus.fi
010 328 9980

 

luotettava kumppani logo

nenovision logo

quorum logo

metkon logo

 

 

Copyright © 2024 Finfocus Instruments Oy