Alkuaine­analyysit ja -analysaattorit

Etusivu » Alkuaine­analyysit ja -analysaattorit

ANALYSAATTORIT JA ALKUAINEANALYYSI

Hitachin alkuaineanalysaattoreilla voidaan määrittää kiinteiden materiaalien, jauheiden ja nesteiden alkuainekoostumuksia. Alkuaineanalyysi onnistuu siis kätevästi.

XRF-, OES- ja LIBS-analysaattoreilla on erilaisia käyttökohteita ja vahvuuksia. XRF-analysaattori soveltuu monien erilaisten materiaalien analysointiin, sen sijaan OES- ja LIBS-analysaattoreilla voidaan analysoida vain kiinteitä metallinäytteitä. Tyypillisesti yhdellä mittauksella saadaan määritettyä 10-25 alkuaineen pitoisuudet.

Ota yhteyttä ja kysy lisää

XRF-analysaattorit

LIBS-analysaattorit ja laseranalysaattorit

OES-analysaattorit

OES/XRF-näytteenvalmistus

Käyttökohteet

Näytetään tulokset 1–16 / 18

ALKUAINEANALYYSI HITACHIN HUIPPUTASON ANALYSAATTOREILLA

XRF-analysaattorit

X-MET -analysaattorit ovat kannettavia ja kenttäkäyttöisiä, mutta soveltuvat pöytätelineen kanssa erinomaisesti myös laboratoriokäyttöön ja tuotannon laadunvalvontaan. X-MET analysoi alkuaineet magnesiumista (Mg) uraaniin (U).  Pöytämalliset Lab-X5000 ja X-Supreme analysoivat myös natriumin (Na).

XRF-analysaattorit soveltuvat erittäin hyvin myös ohuiden, mikrometriluokkaa olevien pinnoitteiden paksuuden mittaukseen. X-Strata ja FT-sarjan laitteita käytetään erityisesti monikerrospinnoitteiden paksuuksien määrityksessä.

XRF-analysaattoreiden (X-Ray Fluorescence) toiminta perustuu röntgensäteilyyn, joka kohdistetaan näytteeseen kapeana keilana. Säteilyn vaikutuksesta alkuaineiden atomien elektronit siirtyvät elektronikuorelta toiselle. Samalla emittoituu kullekin atomille ominaista fluoresenssisäteilyä, jonka ilmaisin (detektori) tunnistaa. Menetelmää kutsutaan energiadispersiiviseksi röntgenfluoresenssiksi (EDXRF).

xrf piirros

OES-analysaattorit

Pöytä- ja lattiamallisilla OES-analysaattoreilla  saadaan analysoitua tarkasti metallien tärkeät seos- ja haitta-aineet kuten hiili (C), rikki (S), fosfori (P), boori (B) ja typpi (N). XRF- ja LIBS-tekniikoilla niiden analysointi ei aina onnistu riittävällä tarkkuudella. Usein liikutettavia OES-laitteita käytetään metallikappaleiden hiilipitoisuuden (C) analysointiin.

OES-menetelmässä poltetaan katkottua valokaarta mittapään elektrodin ja analysoitavan pinnan välillä samoin kuin hitsauksessa. Valokaaren avulla saadaan muodostettua plasma. Alkuaineanalyysi toimii siten, että valokaaren valo ohjataan spektrometriin, joka hajottaa valon alkuaineille ominaisiksi aallonpitoisuuksiksi. Alkuaineiden pitoisuudet lasketaan detektorille tulevien aallonpituussignaalien voimakkuuksista.

oes piirros

LIBS-analysaattorit

Uusi LIBS-tekniikka (Laser Induced Breakdown Spectroscopy) on OES-tekniikan kaltainen, mutta LIBS-laitteissa plasma muodostetaan laserin avulla. Mittaus on erittäin nopea, vain 1-2 sekuntia. Lyhyt mittausaika on etu, jos mitattavia osia ja kappaleita on paljon. Huom! Suomessa LIBS-analysaattorin voi hankkia ilman säteilyturvallisuuslupaa.

VULCAN LIBS-analysaattorien määrä on kasvanut Suomessa viime vuosina merkittävästi. Käyttäjät ovat kiittäneet VULCANin nopeutta, luotettavuutta ja analyysitarkkuutta metallitehtaiden ja konepajojen laadunvarmistuksessa ja varastoilla sekä kierrätysmetallilaatujen luokittelussa.

Finfocus Instruments Oy tuo maahan, myy ja huoltaa laitteita metallien, muiden materiaalien ja maaperän analysointiin, mittaamiseen, tutkimiseen sekä näytteiden käsittelyyn. Laitetoimitukseen sisältyy aina käyttökoulutus.

Finfocus Instruments Oy

Hiomotie 32
00380 Helsinki
info@finfocus.fi
010 328 9980

 

luotettava kumppani logo

tescan logo nenovision logo

quorum logo

metkon logo

 

 

Copyright © 2024 Finfocus Instruments Oy