Hitachin alkuaineanalysaattoreilla voidaan määrittää kiinteiden materiaalien, pinnoitteiden, jauheiden ja nesteiden alkuainekoostumuksia. Alkuaineanalyysin tekeminen on helppoa ja nopeaa!
XRF-, OES– ja LIBS-analysaattoreilla on erilaisia käyttökohteita ja vahvuuksia. XRF-analysaattori soveltuu monien erilaisten materiaalien (ei kaasu) analysointiin, sen sijaan OES- ja LIBS-analysaattoreilla voidaan analysoida vain kiinteitä metallinäytteitä. Tyypillisesti yhdellä mittauksella saadaan määritettyä 10-25 alkuaineen pitoisuudet.
Otathan yhteyttä, kerromme mielellämme lisää!
Näytetään tulokset 1–16 / 28
X-MET8000 -analysaattorit ovat kannettavia kenttäanalysaattoreita, mutta ne soveltuvat pöytätelineen kanssa erinomaisesti myös laboratoriokäyttöön ja tuotannon laadunvalvontaan. X-MET8000 analysoi alkuaineet magnesiumista (Mg) uraaniin (U) erilaisista näytteistä (ei kaasu). Pöytämalliset Lab-X5000 ja X-Supreme analysoivat myös natriumin (Na).
XRF-analysaattorit soveltuvat erittäin hyvin myös ohuiden, mikrometriluokkaa olevien pinnoitteiden paksuuden mittaukseen. X-Strata ja FT-sarjan laitteita käytetään erityisesti monikerrospinnoitteiden paksuuksien määrityksessä.
XRF-analysaattoreiden (X-Ray Fluorescence) toiminta perustuu röntgensäteilyyn, joka kohdistetaan analysoitavaan näytteeseen kapeana keilana. Herättävän säteilyn vaikutuksesta alkuaineiden atomien elektronit siirtyvät elektronikuorelta toiselle. Samalla näytteestä emittoituu kullekin atomille ominaista fluoresenssisäteilyä, jonka analysaattorin ilmaisin (detektori) tunnistaa. Menetelmää kutsutaan energiadispersiiviseksi röntgenfluoresenssiksi (EDXRF).
Pöytä- ja lattiamallisilla OES-analysaattoreilla saadaan analysoitua tarkasti pieniäkin pitoisuuksia metallien tärkeistä seos- ja haitta-aineista kuten hiili (C), rikki (S), fosfori (P), boori (B) ja typpi (N). XRF- ja LIBS-tekniikoilla niiden analysointi ei aina onnistu riittävällä tarkkuudella. Useimmin liikutettavia OES-laitteita käytetään metallikappaleiden hiilipitoisuuden (C) analysointiin.
Samoin kuin hitsauksessa, OES-menetelmässä poltetaan katkottua valokaarta mittapään elektrodin ja analysoitavan pinnan välillä. Näytteen ja elektridin välille syntyvän valokaaren avulla saadaan muodostettua plasma. Valokaaren valo ohjataan spektrometriin, joka hajottaa valon alkuaineille ominaisiksi aallonpitoisuuksiksi. Alkuaineiden pitoisuudet lasketaan detektorille tulevien aallonpituussignaalien voimakkuuksista.
Uusi LIBS-tekniikka (Laser Induced Breakdown Spectroscopy) on OES-tekniikan kaltainen, mutta LIBS-laitteissa plasma muodostetaan näytteen ja laitteen välille laserin avulla. Mittaus on erittäin nopea, vain 1-2 sekuntia. Lyhyt mittausaika on etu, kun mitattavia osia ja kappaleita on paljon. Huom! Suomessa LIBS-analysaattorin voi hankkia ilman säteilyturvallisuuslupaa.
VULCAN LIBS-analysaattorien määrä on kasvanut Suomessa viime vuosina merkittävästi. Käyttäjät metallitehtaiden ja konepajojen laadunvarmistuksessa, varastoilla ja kierrätysmetallilaatujen luokittelussa ovat kiittäneet VULCANin nopeutta, luotettavuutta ja analyysitarkkuutta .
Finfocus Instruments Oy tuo maahan, myy ja huoltaa laitteita metallien, muiden materiaalien ja maaperän analysointiin, mittaamiseen, tutkimiseen sekä näytteiden käsittelyyn. Laitetoimitukseen sisältyy aina käyttökoulutus.
Finfocus Instruments Oy
Hiomotie 32
00380 Helsinki
info@finfocus.fi
010 328 9980
