Etusivu » Tuotteet » TESCAN SOLARIS X FIB-SEM elektronimikroskooppi

TESCAN SOLARIS X FIB-SEM elektronimikroskooppi

Tescan SOLARIS ja SOLARIS X ovat taas FIB-SEM malleja, jotka perustuvat MAGNA FEG-SEM elektronimikroskooppiin (lisätietoa MAGNA FEG-SEM mallista). Tescanin Triglav™ teknologia immersiolinsseillä yhdistettynä elektronikolumnin sisällä oleviin in-beam elektronidetektoreihin, mahdollistaa erittäin korkean resoluution kuvantamisen ei-magneettisten näytteiden kanssa. Immersiolinssit pystytään kytkemään pois päältä, jolloin myös magneettisten näytteiden kuvaaminen onnistuu, hieman heikommalla resoluutiolla. Gallium-ionisuihkuun verrattuna Xe-plasmalla saavutetaan huomattavasti suurempi työstönopeus, jolloin poikkileikkeiden tekeminen suuristakin kohteista onnistuu nopeasti. Työstövirta 1uA/2uA.

  • Kenttäemissio
    -laitteisto (FEG)
  • Xe-FIB kolumni
  • Korkean vakuumin laitteisto
  • Matala vakuumi optiona
  • SE-detektori standardina
  • BSE-detektori valittavissa
  • Resoluutio:
    0,5 nm @ 30 keV
    1,2 nm @ 1 keV

 

Valmistaja: Tescan GROUP, a.s., Czech Republic

Lisätiedot

TESCAN SOLARIS X on kenttäemissioon perustuva UHR-elektronimikroskooppi, joka on varustettu Xe-FIB kolumnilla. Elektronimikroskoopin mukana tulee standardina SE-detektori ja sen lisäksi laitteisto on mahdollista varustaa monipuolisesti erilaisilla BSE-, EDS-, yms. detektoreilla.

Laitteisto on saatavilla suurella kammiolla (GM) mikä mahdollistaa monipuolisesti erilaisten näytteiden tutkimisen. TESCAN SOLARIS X elektronimikroskooppi on varustettu BrightBeam kolumnilla, joka mahdollistaa paremmin matalien kiihdytysjännitteiden käytön ja tästä syystä TESCAN AMBER toimii erityisen hyvin huonosti johtavien näytteiden kanssa.

Laitteiston kammiossa on 5-aksiaalinen kompusentrinen näytepöytä (X, Y, Z, tilt, rot), jonka liikealueet riippuvat kammion koosta.

Annamme mielellämme lisätietoja laitteistosta. Otathan yhteyttä alla olevalla lomakkeella

Ominaisuudet

Esitteet, Videot

Lataa TESCAN SOLARIS X elektronimikroskoopin esite:

TESCAN SOLARIS X esite

Lisävarusteet

TESCAN SOLARIS X elektronimikroskooppi on varustettavissa monilla erilaisilla lisävarusteilla.

Laitteistoon voidaan lisätä standardina tulevan SE-detektorin lisäksi BSE-detektori useammasta vaihtoehdosta, sekä muita detektoreja kuten STEM-, EDS-, EBSD-, RAMAN- ja CL-detektori. Detektorien lisäksi laitteistoon on saatavilla monia muita lisäosia.

Kerromme mielellämme lisää! Meihin voi ottaa yhteyttä alla olevalla lomakkeella tai sitten voit soittaa suoraan numeroon: 010 328 998

Ota yhteyttä ja kysy lisää tuotteesta

"*" näyttää pakolliset kentät

Käytämme lomakkeen kautta saatuja tietoja palveluidemme tarjoamiseen ja toimittamiseen. Lisätietoja löydät Finfocus Instruments Oy:n tietosuojaselosteesta »
Kenttä on validointitarkoituksiin ja tulee jättää koskemattomaksi.

Finfocus Instruments Oy tuo maahan, myy ja huoltaa laitteita metallien, muiden materiaalien ja maaperän analysointiin, mittaamiseen, tutkimiseen sekä näytteiden käsittelyyn. Laitetoimitukseen sisältyy aina käyttökoulutus.

Finfocus Instruments Oy

Hiomotie 32
00380 Helsinki
info@finfocus.fi
010 328 9980

 

luotettava kumppani logo

nenovision logo

quorum logo

metkon logo

 

 

Copyright © 2024 Finfocus Instruments Oy