TESCAN AMBER X FIB-SEM elektronimikroskooppi

Tescan AMBER ja AMBER X ovat FIB-SEM malleja, jotka on kehitetty CLARA FEG-SEM laitteiston ympärille (lisätietoa CLARA FEG-SEM mallista). Tescanin BrightBeam™ teknologia yhdistettynä elektronikolumnin sisällä oleviin in-beam elektronidetektoreihin mahdollistaa hyvinkin haastavien näytteiden kuvaamisen erittäin hyvällä resoluutiolla, jopa hyvinkin alhaisilla kiihdytysjännitteillä. Lisäksi kolumnin sisällä oleva multidetektori mahdollistaa elektronien suodattamisen niiden emittoitumiskulman ja energian perusteella, jolloin voidaan parantaa näytteestä saatavaa topografia- ja koostumusinformaatiota. Gallium-ionisuihkuun verrattuna Xe-plasmalla saavutetaan huomattavasti suurempi työstönopeus, jolloin poikkileikkeiden tekeminen suuristakin kohteista onnistuu nopeasti. Työstövirta 1uA/2uA.

Kenttäemissio
-laitteisto (FEG)
Xe-FIB kolumni
Korkean vakuumin laitteisto
Matala vakuumi optiona
SE-detektori standardina
BSE-detektori valittavissa
Resoluutio SEM:
0,8 nm @ 30 keV
1,3 nm @ 1 keV

Valmistaja: Tescan GROUP, a.s., Czech Republic

Lisätiedot

TESCAN AMBER X on kenttäemissioon perustuva UHR-elektronimikroskooppi, joka on varustettu Ga-FIB kolumnilla. Elektronimikroskoopin mukana tulee standardina SE-detektori ja sen lisäksi laitteisto on mahdollista varustaa monipuolisesti erilaisilla BSE-, EDS-, yms. detektoreilla.

Laitteisto on saatavilla suurella kammiolla (GM) mikä mahdollistaa monipuolisesti erilaisten näytteiden tutkimisen. TESCAN AMBER X elektronimikroskooppi on varustettu BrightBeam kolumnilla, joka mahdollistaa paremmin matalien kiihdytysjännitteiden käytön ja tästä syystä TESCAN AMBER toimii erityisen hyvin huonosti johtavien näytteiden kanssa.

Laitteiston kammiossa on 5-aksiaalinen kompusentrinen näytepöytä (X, Y, Z, tilt, rot), jonka liikealueet riippuvat kammion koosta.

Annamme mielellämme lisätietoja laitteistosta. Otathan yhteyttä alla olevalla lomakkeella

Ominaisuudet

Esitteet, Videot

Lataa TESCAN AMBER X elektronimikroskoopin esite:

TESCAN AMBER X esite

Lisävarusteet

TESCAN AMBER X elektronimikroskooppi on varustettavissa monilla erilaisilla lisävarusteilla.

Laitteistoon voidaan lisätä standardina tulevan SE-detektorin lisäksi BSE-detektori useammasta vaihtoehdosta, sekä muita detektoreja kuten STEM-, EDS-, EBSD-, RAMAN- ja CL-detektori. Detektorien lisäksi laitteistoon on saatavilla monia muita lisäosia.

Kerromme mielellämme lisää! Meihin voi ottaa yhteyttä alla olevalla lomakkeella tai sitten voit soittaa suoraan numeroon: 010 328 998

Ota yhteyttä ja kysy lisää tuotteesta

"*" näyttää pakolliset kentät