Etusivu » Tuotteet » TESCAN AMBER FIB-SEM elektronimikroskooppi

TESCAN AMBER FIB-SEM elektronimikroskooppi

Tescan AMBER ja AMBER X ovat FIB-SEM malleja, jotka on kehitetty CLARA FEG-SEM laitteiston ympärille (lisätietoa CLARA FEG-SEM mallista). Tescanin BrightBeam™ teknologia yhdistettynä elektronikolumnin sisällä oleviin in-beam elektronidetektoreihin mahdollistaa hyvinkin haastavien näytteiden kuvaamisen erittäin hyvällä resoluutiolla, jopa hyvinkin alhaisilla kiihdytysjännitteillä. Lisäksi kolumnin sisällä oleva multidetektori mahdollistaa elektronien suodattamisen niiden emittoitumiskulman ja energian perusteella, jolloin voidaan parantaa näytteestä saatavaa topografia- ja koostumusinformaatiota. Ionilähteenä on yleisimmin käytetty Gallium-lähde. Gallium-ionisuihkulla saavutetaan loistava tarkkuus ja hyvä työstönopeus.

  • Kenttäemissio
    -laitteisto (FEG)
  • Ga-FIB kolumni
  • Korkean vakuumin laitteisto
  • Matala vakuumi optiona
  • SE-detektori standardina
  • BSE-detektori valittavissa
  • GM-kammio
  • Resoluutio SEM:
    0,8nm@30keV
    1,3nm@1keV

 

Valmistaja: Tescan GROUP, a.s., Czech Republic

Lisätiedot

TESCAN AMBER on kenttäemissioon perustuva UHR-elektronimikroskooppi, joka on varustettu Ga-FIB kolumnilla. Elektronimikroskoopin mukana tulee standardina SE-detektori ja sen lisäksi laitteisto on mahdollista varustaa monipuolisesti erilaisilla BSE-, EDS-, yms. detektoreilla.

Laitteisto on saatavilla suurella kammiolla (GM) mikä mahdollistaa monipuolisesti erilaisten näytteiden tutkimisen. TESCAN AMBER elektronimikroskooppi on varustettu BrightBeam kolumnilla, joka mahdollistaa paremmin matalien kiihdytysjännitteiden käytön ja tästä syystä TESCAN AMBER toimii erityisen hyvin huonosti johtavien näytteiden kanssa.

Laitteiston kammiossa on 5-aksiaalinen kompusentrinen näytepöytä (X, Y, Z, tilt, rot), jonka liikealueet riippuvat kammion koosta.

Annamme mielellämme lisätietoja laitteistosta. Otathan yhteyttä alla olevalla lomakkeella

Ominaisuudet

Esitteet, Videot

Lataa TESCAN AMBER elektronimikroskoopin esite:

TESCAN AMBER esite

 

Lisävarusteet

TESCAN AMBER elektronimikroskooppi on varustettavissa monilla erilaisilla lisävarusteilla.

Laitteistoon voidaan lisätä standardina tulevan SE-detektorin lisäksi BSE-detektori useammasta vaihtoehdosta, sekä muita detektoreja kuten STEM-, EDS-, EBSD-, RAMAN- ja CL-detektori. Detektorien lisäksi laitteistoon on saatavilla monia muita lisäosia.

Kerromme mielellämme lisää! Meihin voi ottaa yhteyttä alla olevalla lomakkeella tai sitten voit soittaa suoraan numeroon: 010 328 9980

Ota yhteyttä ja kysy lisää tuotteesta

"*" näyttää pakolliset kentät

Käytämme lomakkeen kautta saatuja tietoja palveluidemme tarjoamiseen ja toimittamiseen. Lisätietoja löydät Finfocus Instruments Oy:n tietosuojaselosteesta »
Kenttä on validointitarkoituksiin ja tulee jättää koskemattomaksi.

Finfocus Instruments Oy tuo maahan, myy ja huoltaa laitteita metallien, muiden materiaalien ja maaperän analysointiin, mittaamiseen, tutkimiseen sekä näytteiden käsittelyyn. Laitetoimitukseen sisältyy aina käyttökoulutus.

Finfocus Instruments Oy

Hiomotie 32
00380 Helsinki
info@finfocus.fi
010 328 9980

 

luotettava kumppani logo

tescan logo nenovision logo

quorum logo

metkon logo

 

 

Copyright © 2024 Finfocus Instruments Oy