TESCAN MIRA4 FEG-SEM elektronimikroskooppi

Tescan MIRA 4 sarjan kenttäemissioelektronimikroskoopisto on saatavilla kaksi erikokoisella kammiolla varustettua laitetta. Keskikokoisella kammiolla (LM) varustetulla laitteella voidaan kuvata näytettä joka on kooltaan 145 x 145 mm. Vastaavasti suurella (GM) kammiolla varustetulla laitteella voidaan kuvata ja analysoida näytettä, jonko koko on 335 x 315 mm. Eri kokoiset kammiot myös mahdollistavat erilaisten lisäosien asennuksen kammion kyljissä olevista porteistä. Keskikokoisessa kammiossa näitä portteja on 12+ ja suuressa 20+.

MIRA 4 kenttäemissioelektronimikroskooppi kykenee kuvaamaan lähes nanometrin resoluutiolla, parhaimmillaa SE detektoria käyttäen 30keV kiihdytysjännitteellä päästään 1,2nm resoluutioon. Alhaisilla kiihdytysjännitteilläkin on mahdollista kuvata jopa 1,8nm resoluutiolla olevia kuvia. Alhaisen kiihdytysjännitteen huippuresoluutioiset kuvat mahdollistaa MIRA 4 laitteistoon suunnitellut kolumnin sisällä (In-Beam) olevat SE- ja BSE-detektorit ja elektronisäteen hidastusteknologia (BDT = Beam Deceleration Technology). BDT ja In-Beam detektorit eivät kuulu normaalikokoonpanoon ja ovatkin saatavilla lisäosina.

MIRA 4 laitteiston vakiokokoonpanoon kuuluu SingleVac ominaisuus, joka mahdollistaa heikommin johtavien näytteiden kuvaamisen. SingleVac ominaisuus nostaa kammion paineen noin 30 Pascaliin, jolloin näytteen varautuminen pystytään minimoimaan. Mikäli 30 pascalin vakiopaine ei ole riittävä niin MIRA 4 on saatavilla UniVac ominaisuus, jolla painetta voidaan säätää portaattomasti 7 – 500 pascalin välillä.

Tescanin mallistoon on tuotu oma integroitu Essence EDS, joka on mahdollista asentaa jo valmiiksi elektronimikroskooppiin. Tescanin Essence EDS hyödyntää samaa käyttöliittymää kuin elektronimikroskooppikin, jolloin kolmannen osapuolen detektoreita tai analyysiohjelmaa ei ole välttämätöntä hankkia.

Kenttäemissioelektronilähde (FEG)
Analyyttinen kolumni
Korkean ja matalan vakuumin laitteisto
Resoluutio:
1,2 nm @ 30 keV
3,5 nm @ 1 keV

Valmistaja: Tescan GROUP, a.s., Czech Republic

Lisätiedot

TESCAN MIRA4 on analyyttinen kenttäemissioon perustuva elektronimikroskooppi. Elektronimikroskoopin mukana tulee standardina SE-detektori ja sen lisäksi laitteisto on mahdollista varustaa monipuolisesti erilaisilla BSE-, EDS-, yms. detektoreilla.

Laitteisto on saatavilla kahdella erikokoisella kammiolla (LM ja GM) mikä mahdollistaa monipuolisesti erilaisten näytteiden tutkimisen. TESCAN MIRA4 elektronimikroskoopit on varustettu standardina kammion paineenalentimella, eli laitteistolla pystytään toimimaan myös alhaisemmissa paineissa. Standardina paineenalennus on asetettu 30 Pa, mutta laitteistot on saatavilla myös versiona, jossa painetta voidaan säätää aina 700 Pa asti.

Laitteiston kammiossa on 5-aksiaalinen kompusentrinen näytepöytä (X, Y, Z, tilt, rot), jonka liikealueet riippuvat kammion koosta.

Annamme mielellämme lisätietoja laitteistosta. Otathan yhteyttä alla olevalla lomakkeella

Ominaisuudet

Esitteet, Videot

Lataa tästä TESCAN MIRA4 elektronimikroskoopin esite:

TESCAN MIRA4 esite

Lisävarusteet

TESCAN MIRA4 elektronimikroskooppi on varustettavissa monilla erilaisilla lisävarusteilla.

Laitteistoon voidaan lisätä standardina tulevan SE-detektorin lisäksi BSE-detektori useammasta vaihtoehdosta, sekä muita detektoreja kuten STEM-, EDS-, EBSD-, RAMAN- ja CL-detektori. Detektorien lisäksi laitteistoon on saatavilla monia muita lisäosia.

Kerromme mielellämme lisää! Meihin voi ottaa yhteyttä alla olevalla lomakkeella tai sitten voit soittaa suoraan numeroon: 010 328 9980

Ota yhteyttä ja kysy lisää tuotteesta