Materiaalitutkimuksella tarkoitetaan laaja-alaista erilaisten materiaalien kuten metallien, muovien, keraamien, tekstiilien sekä orgaanisten aineiden tutkimusta. Orgaanisiksi aineiksi voidaan luokitella muun muassa puu ja paperi. Yllämainittujen materiaalien tutkimuksessa hyödynnetään monenlaisia analyysi- ja koeistuslaitteistoja, mutta kun materiaalin hienorakennetta halutaan tutkia visuaalisesti, niin elektronimikroskooppi (SEM, Scanning Electron Microscope) antaa parhaimman tuloksen, sillä elektronimikroskoopilla pystytään havaitsemaan materiaalin pienimmätkin yksityiskohdat jopa nanometrien kokoluokassa.
Materiaalien tutkimuksessa on tärkeää saada tietoa myös alkuainekoostumuksista, sillä monien materiaalien ominaisuudet, niin mekaaniset, kemialliset kuin fysikaalisetkin, vaativat hyvinkin tarkat alkuainepitoisuudet ja alkuainepitoisuuksien pienetkin muutokset voivat aiheuttaa pahimillaan materiaalien ennenaikaisen hajoamisen. Elektronimikroskooppeihin asennettavat alkuaineanalysaattorit, kuten energiadispersiivinen detektori (EDS, Energy Dispersive Spectrometer) tai aallonpituusdispersiivinen detektori (WDS, Wavelength Dispersive Spectrometry) mahdollistavat tarkat alkuainepitoisuus analyysit materiaalien pienimmiltäkin alueilta.
Me Finfocuksella tuomme maahan ja myymme Tescanin elektronimikroskooppeja sekä eri laitevalmistajien EDS-analysaattoreita. Mikäli näille laitteille on tarvetta, esimerkiksi materiaalitutkimuksessa, niin Finfocuksen asiantuntijat auttavat mielellään.
Tescan VEGA 4 Compact on täydellinen valinta jokapäiväiseen rutiinianalytiikkaan sekä kuvantamiseen, kun tarve on mikrometriluokan erotuskyvylle (saavutettavissa oleva resoluutio 3nm).
Lataa esite
VEGA4 LM on myydyin VEGA-sarjan laitteista. Sen kammioon mahtuvat hyvin tyypillisimmät SEM näytteet. Laitteiston resoluutio soveltuu hyvin useimpien näytteiden rakenteen kuvantamiseen.
VEGA4 GM tarkoitettu erityisen suurille näytteille ja järjestelmille, joihin liitetään useita detektoreita (esim. EDS, WDS, EBSD, jne). Suuri kaamiokoko mahdollistaa myös suurempien ja painavampien näytteiden kuvantamisen. Kappale voi painaa jopa 8kg.
Lataa esiteMIRA4 on suorituskykyinen SEM kaikkiin sovelluksiin.
Resoluutio:
1,2nm@30keV (SE), 3,5nm@30keV (in beam SE) ja 1,8nm@1keV (BDT:n kanssa)
SingleVac:
2,0nm@30keV (BSE) ja 1,5nm230keV (LVSTD)
BrightBeam™ SEM kolumni ja uudet in-beam aksiaaliset detektorit. CLARA on korkean resoluution SEM kaikkiin sovelluksiin.
Resoluutio: 0,8nm@30keV (STEM), 0,9nm@15keV, 1,4nm@1keV
Lataa esiteTriglav™ kolumni ja kehittyneet detektorit. MAGNA tarjoaa äärimmäistä suorituskykyä todella vaativaan SEM-kuvantamiseen. Paras suorituskyky ei-magneettisille näytteille.
Resoluutio: 0,5nm@30keV (STEM), 0,6nm@15keV, 1,2nm@1keV
Lataa esite
Ionilähteenä on yleisimmin käytetty Gallium-lähde. Gallium-ionisuihkulla saavutetaan loistava tarkkuus ja hyvä työstönopeus.
Gallium-ionisuihkuun verrattuna Xe-plasmalla saavutetaan huomattavasti suurempi työstönopeus, jolloin poikkileikkeiden tekeminen suuristakin kohteista onnistuu nopeasti. Työstövirta 1uA/2uA.
Lataa esite
Gallium-ionisuihkuun verrattuna Xe-plasmalla saavutetaan huomattavasti suurempi työstönopeus, jolloin poikkileikkeiden tekeminen suuristakin kohteista onnistuu nopeasti. Työstövirta 1uA/2uA.
Ionilähteenä on yleisimmin käytetty Gallium-lähde. Gallium-ionisuihkulla saavutetaan loistava tarkkuus ja hyvä työstönopeus.
010 328 9980
