Materiaalitutkimus

Materiaalitutkimus onnistuu myymillämme laitteilla kätevästi! Asiantuntijamme auttavat mielellään sinua valitsemaan oikean analysaattorin.

Materiaalitutkimuksella tarkoitetaan laaja-alaista erilaisten materiaalien kuten metallien, muovien, keraamien, tekstiilien sekä orgaanisten aineiden tutkimusta. Orgaanisiksi aineiksi voidaan luokitella muun muassa puu ja paperi. Yllämainittujen materiaalien tutkimuksessa hyödynnetään monenlaisia analyysi- ja koeistuslaitteistoja, mutta kun materiaalin hienorakennetta halutaan tutkia visuaalisesti, niin elektronimikroskooppi (SEM, Scanning Electron Microscope) antaa parhaimman tuloksen, sillä elektronimikroskoopilla pystytään havaitsemaan materiaalin pienimmätkin yksityiskohdat jopa nanometrien kokoluokassa.

Materiaalien tutkimuksessa on tärkeää saada tietoa myös alkuainekoostumuksista, sillä monien materiaalien ominaisuudet, niin mekaaniset, kemialliset kuin fysikaalisetkin, vaativat hyvinkin tarkat alkuainepitoisuudet ja alkuainepitoisuuksien pienetkin muutokset voivat aiheuttaa pahimillaan materiaalien ennenaikaisen hajoamisen. Elektronimikroskooppeihin asennettavat alkuaineanalysaattorit, kuten energiadispersiivinen detektori (EDS, Energy Dispersive Spectrometer) tai aallonpituusdispersiivinen detektori (WDS, Wavelength Dispersive Spectrometry) mahdollistavat tarkat alkuainepitoisuus analyysit materiaalien pienimmiltäkin alueilta.

Me Finfocuksella tuomme maahan ja myymme Tescanin elektronimikroskooppeja sekä eri laitevalmistajien EDS-analysaattoreita. Mikäli näille laitteille on tarvetta, esimerkiksi materiaalitutkimuksessa, niin Finfocuksen asiantuntijat auttavat mielellään.

Tuotteet

  • TESCAN VEGA Compact elektronimikroskooppi (SEM)

    TESCAN VEGA4 Compact elektroni­mikroskooppi

    • W-SEM
    • Korkean vakuumin laitteisto
    • Resoluutio:
      3 nm @ 30 keV
      8 nm @ 3 keV
    Tutustu tarkemmin
  • TESCAN VEGA4 elektronimikroskooppi

    • W-SEM
    • Korkean ja matalan vakuumin laitteisto
    • Resoluutio:
      3 nm @ 30 keV
      8 nm @ 3 keV
    Tutustu tarkemmin
  • TESCAN MIRA4 FEG-SEM elektronimikroskooppi

    • FEG-SEM
    • Korkean ja matalan vakuumin laitteisto
    • Resoluutio:
      1,2 nm @ 30 keV,
      3,5 nm @ 1 keV
    Tutustu tarkemmin
  • TESCAN CLARA FEG-SEM elektronimikroskooppi

    • FEG-SEM (UHR)
    • Korkean ja matalan vakuumin vaihtoehdot
    • Resoluutio:
      0,8 nm @ 30 keV
      1,3 nm @ 1 keV
    Tutustu tarkemmin
  • TESCAN MAGNA FEG-SEM elektronimikroskooppi

    • FEG-SEM (UHR)
    • Korkean ja matalan vakuumin vaihtoehdot
    • Resoluutio:
      0,5 nm @ 30 keV
      1,2 nm @ 1 keV
    Tutustu tarkemmin
  • TESCAN AMBER FIB-SEM elektronimikroskooppi

    • FIB-SEM (FEG pohjainen)
    • Ga FIB kolumni
    • Korkean ja matalan vakuumin vaihtoehdot
    • Resoluutio:
      0,8 nm @ 30 keV
      1,3 nm @ 1 keV
    Tutustu tarkemmin
  • TESCAN AMBER X FIB-SEM elektronimikroskooppi

    • FIB-SEM (FEG pohjainen)
    • Xe FIB kolumni
    • Korkean ja matalan vakuumin vaihtoehdot
    • Resoluutio:
      0,8 nm @ 30 keV
      1,3 nm @ 1 keV
    Tutustu tarkemmin
  • TESCAN SOLARIS FIB-SEM elektronimikroskooppi

    • FIB-SEM (FEG pohjainen)
    • Ga FIB kolumni
    • Korkean ja matalan vakuumin vaihtoehdot
    • Resoluutio:
      0,5 nm @ 30 keV
      1,2 nm @ 1 keV
    Tutustu tarkemmin
  • TESCAN SOLARIS X FIB-SEM elektronimikroskooppi

    • FIB-SEM (FEG pohjainen)
    • Xe FIB kolumni
    • Korkean ja matalan vakuumin vaihtoehdot
    • Resoluutio:
      0,5 nm @ 30 keV
      1,2 nm @ 1 keV
    Tutustu tarkemmin
  • TESCAN TIMA FEG-SEM elektronimikroskooppi

    • FEG-SEM
    • Korkean ja matalan vakuumin vaihtoehdot
    • Resoluutio:
      1,2 nm @ 30 keV
      3,5 nm @ 1 keV
    Tutustu tarkemmin
  • Finfocus Instruments Oy tuo maahan, myy ja huoltaa laitteita metallien, muiden materiaalien ja maaperän analysointiin, mittaamiseen, tutkimiseen sekä näytteiden käsittelyyn. Laitetoimitukseen sisältyy aina käyttökoulutus.

    Finfocus Instruments Oy

    Hiomotie 32
    00380 Helsinki
    info@finfocus.fi
    010 328 9980

     

    luotettava kumppani logo

    tescan logo nenovision logo

    quorum logo

    metkon logo

     

     

    Copyright © 2024 Finfocus Instruments Oy