Biologiset näytteet



Moni ei välttämättä ensimmäisenä ajattelisi, että elektronimikroskooppeja voitaisiin hyödyntää biologisten näytteiden, kuten solujen, kasvien, lääkkeiden tai muiden mikro-organismien tutkimukseen. Tämä on väärä olettamus, sillä elektronimikroskooppeja hyödynnetään  varsin laajasti erilaisissa biologisissa tutkimuskohteissa, aina lääkkeiden valmistuksesta kasvien ja eläinten biologian tutkimukseen.

Elektronimikroskoopit ovat siis varsin monipuolisia työkaluja, joilla voidaan kuvata lähes mitä vaan mikä mikroskoopin kammioon saadaan mahtumaan. Biologisten näytteiden kanssa on kuitenkin huomattava niiden erityislaatuisuus koviin ja ei eloperäisiin materiaaleihin nähden. Biologiset näytteet voivat olla hyvinkin herkkiä tuhoutumaan elektronisäteen alla ja kun tämän päälle lisätään korkea vakuumi, voi näytteen tuhoutuminen olla enemmän kuin todennäköistä. Kuitenkin nykyaikaisissa elektronimikroskoopeissa on mahdollista optimoida monia eri parametrejä sekä nostaa kammion painetta, jolloin herkimpienkin näytteiden kuvaaminen on mahdollista.

Biologisten näytteiden analysointiin ei ole olemassa yhtä ainoaa oikeaa elektronimikroskooppia vaan elektronimikroskoopin tyyppi määräytyy näytteiden vaatimusten mukaisesti. Perinteisessä kuvantamisessa voidaan hyödyntää joko termiseen elektronilähteeseen perustuvaa elektronimikroskooppia tai sitten paremman resoluution omaavaa kenttäemissioelektronimikroskooppia. Valintaan vaikuttaa vahvasti tutkittavien rakenteiden koko. Biologisten näytteiden kanssa voidaan hyödyntää myös huippulaadukkaita kenttäemissioelektronimikroskooppeihin pohjautuvia FIB-SEM laitteistoja, jotka mahdollistavat muunmuassa näytteiden kolmiulotteisen tutkimuksen.

Me Finfocuksella tuomme maahan ja myymme Tescanin elektronimikroskooppeja sekä eri laitevalmistajien EDS-analysaattoreita. Mikäli näille laitteille on tarvetta, esimerkiksi biologisten näytteiden analysoinnissa, niin Finfocuksen asiantuntijat auttavat mielellään.

VEGA 4 LM SEM
Elektronimikroskooppi

  • Keskikokoinen kammio
  • SingleVac (30Pa) mukana
  • Resoluutio: 3nm @ 30keV,  8nm @ 3keV


VEGA4 LM on myydyin VEGA-sarjan laitteista. Sen kammioon mahtuvat hyvin tyypillisimmät SEM näytteet. Laitteiston resoluutio soveltuu hyvin useimpien näytteiden rakenteen kuvantamiseen.

Lataa esite

VEGA 4 GM SEM
Elektronimikroskooppi

  • Erikoissuuri kammio
  • SingleVac (30Pa) mukana
  • Resoluutio: 3nm @ 30keV, 8nm @ 3keV

 

VEGA4 GM tarkoitettu erityisen suurille näytteille ja järjestelmille, joihin liitetään useita detektoreita (esim. EDS, WDS, EBSD, jne). Suuri kaamiokoko mahdollistaa myös suurempien ja painavampien näytteiden kuvantamisen. Kappale voi painaa jopa 8kg.

Lataa esite

MIRA 4 FEG-SEM
Elektronimikroskooppi

  • Analyyttinen kolumni
  • SingleVac vakiona/UniVac optio
  • Resoluutio:
    1,2nm@30keV (SE)

MIRA4 on suorituskykyinen SEM kaikkiin sovelluksiin.

Resoluutio:
1,2nm@30keV (SE), 3,5nm@30keV (in beam SE) ja 1,8nm@1keV (BDT:n kanssa)

SingleVac:
2,0nm@30keV (BSE) ja 1,5nm230keV (LVSTD)

Lataa esite

MAGNA (UHR) FEG-SEM
Elektronimikroskooppi

  • Triglav™ UHR Kolumni
  • UniVac optiona
  • Resoluutio:
    0,5nm@30keV (STEM)

Triglav™ kolumni ja kehittyneet detektorit. MAGNA tarjoaa äärimmäistä suorituskykyä todella vaativaan SEM-kuvantamiseen. Paras suorituskyky ei-magneettisille näytteille.

Resoluutio: 0,5nm@30keV (STEM), 0,6nm@15keV, 1,2nm@1keV

Lataa esite

SOLARIS FIB-SEM
Elektronimikroskooppi

  • MAGNAan perustuva FIB
  • Gallium-lähde
  • FIBin resoluutio: 2.5nm@30kV


Ionilähteenä on yleisimmin käytetty Gallium-lähde. Gallium-ionisuihkulla saavutetaan loistava tarkkuus ja hyvä työstönopeus.

Lataa esite

SOLARIS X FIB-SEM
Elektronimikroskooppi

  • MAGNAan perustuva FIB
  • Xenon plasma -lähde
  • FIBin resoluutio:        <15nm@30kV (HR i-FIB+™), <25nm@30kV (i-FIB+™)

Gallium-ionisuihkuun verrattuna Xe-plasmalla saavutetaan huomattavasti suurempi työstönopeus, jolloin poikkileikkeiden tekeminen suuristakin kohteista onnistuu nopeasti. Työstövirta 1uA/2uA.

Lataa esite

AMBER X FIB-SEM
Elektronimikroskooppi

  • CLARAan perustuva FIB
  • Xenon plasma -lähde
  • FIBin resoluutio:           <15nm@30kV (HR i-FIB+™), <25nm@30kV (i-FIB+™)


Gallium-ionisuihkuun verrattuna Xe-plasmalla saavutetaan huomattavasti suurempi työstönopeus, jolloin poikkileikkeiden tekeminen suuristakin kohteista onnistuu nopeasti. Työstövirta 1uA/2uA.

Lataa esite

CLARA (UHR) FEG-SEM
Elektronimikroskooppi

  • BrightBeam™ UHR Kolumni
  • UniVac optiona
  • Resoluutio:
    0,8nm@30keV (STEM)


BrightBeam™ SEM kolumni ja uudet in-beam aksiaaliset detektorit. CLARA on korkean resoluution SEM kaikkiin sovelluksiin.

Resoluutio: 0,8nm@30keV (STEM), 0,9nm@15keV, 1,4nm@1keV

Lataa esite

AMBER FIB-SEM
Elektronimikroskooppi

  • CLARAan perustuva FIB
  • Gallium lähde
  • FIBin resoluutio: 2.5nm@30kV



Ionilähteenä on yleisimmin käytetty Gallium-lähde. Gallium-ionisuihkulla saavutetaan loistava tarkkuus ja hyvä työstönopeus.

Lataa esite
Soita 010 328 9980 ja kysy lisää Pyydä demo tai jätä yhteydenottopyyntö