Hitachin Optisilla Emissio Spektrometreillä eli OES-analysaattoreilla saadaan mitattua metalliseoksen tarkka kokonaisanalyysi. Muiden seosaineiden lisäksi saadaan analysoitua myös hiilen (C), rikin (S), fosforin (P), boorin (B) ja typen (N) pitoisuudet. Pöytä- ja lattiamallisissa Foundry-Mastereissa on avoin mittauspöytä, johon mahtuu suurikin kappale analysoitavaksi. Liikuteltavassa PMI-Masterissa laitteen mukana kulkee kärryssä myös kaasupullo (Ar), jota käytetään mittauspolton suojakaasuna.
XRF– ja LIBS-analysaattorit ovat erittäin käyttökelpoisia työkaluja monissa mittauskohteissa, mutta niillä on kuitenkin joitain rajoituksia. OES-analysaattorit pystyvät useimmiten ratkaisemaan metalliseosten analyyseihin liittyvät ongelmat.
Otathan yhteyttä, kerromme mielellämme lisää!
Showing all 3 results
Yksi tärkeimmistä OES-analysaattoreilla analysoitavista alkuaineista on hiili (C) teräksestä. Sen analysoiminen ei onnistu kannettavalla XRF-analysaattorilla ja LIBSillä se onnistuu vain rajallisesti. Hiilen pitoisuus vaikuttaa teräksen hitsattavuuteen. Esimerkiksi haponkestävän 316 teräksen hiilipitoisuus on yli 0,03%. Vastaavan matalahiilisen teräksen 316L hiilipitoisuus pitää olla alle 0,03%. Mainittu hiilipitoisuus pystytään analysoimaan myös kenttäolosuhteissa luotettavasti liikuteltavalla PMI-Master Smart OES-analysaattorilla.
Rikin (S) ja fosforin (P) pitoisuudet ovat teräksissä usein alle 0,03-0,04%. Näin pieniä pitoisuuksia ei XRF- eikä LIBS-analysaattoreilla voi analysoida luotettavasti. Kannettavilla XRF-analysaattoreilla saa mainitut pitoisuustasot analysoitua, jos mitattava näytepinta on erittäin puhdas ja käytetään huomattavan pitkää mittausaikaa. On siis mahdollisuus, että analyysitulokset eivät ole aina luotettavia. OES-analysaattoreilla pienetkin S ja P pitoisuudet saadaan analysoitua luotettavasti ja nopeasti.
Boorin pitoisuudet ovat teräksissä usein erittäin matalia (< 0,01%), mutta ne saadaan analysoitua OES-analysaattoreilla. Samoin beryllium (Be), joka ei ole XRF:n mittausalueella, saadaan analysoitua tarkasti OES-analysaattorilla esimerkiksi berylliumkupareista (CuBe).
Magnesium (Mg) on haastava alkuaine XRF:lle heikon signaalinsa takia. Tästä syystä alle 0,1-0,2% magnesiumin pitoisuudet ovat hankalasti mittavia XRF-analysaattoreilla, samoin kuin LIBS-analysaattoreilla. OES-tekniikalla matalienkin magnesiuminpitoisuuksien analysoiminen esimerkiksi alumiiniseoksista onnistuu erittäin tarkasti.
Finfocus Instruments Oy tuo maahan, myy ja huoltaa laitteita metallien, muiden materiaalien ja maaperän analysointiin, mittaamiseen, tutkimiseen sekä näytteiden käsittelyyn. Laitetoimitukseen sisältyy aina käyttökoulutus.
Finfocus Instruments Oy
Hiomotie 32
00380 Helsinki
info@finfocus.fi
010 328 9980
