Suodata tuotteita:
Hitachin alkuaineanalysaattoreilla voidaan määrittää jauhemaisten, nestemäisten ja kiinteiden materiaalien alkuainekoostumuksia
XRF-, OES- ja LIBS-analysaattoreilla on kaikilla omat käyttökohteensa ja vahvuutensa. XRF-analysaattori soveltuu hyvin kaiken tyyppisten materiaalien koostumuksen analysointiin, kun taas OES- ja LIBS-analysaattori puolestaan analysoi vain kiinteitä metalliseoksia. Analysoitavien alkuaineiden määrä on kattava, yhdellä alkuaineanalyysillä saadaan määritettyä samanaikaisesti tyypillisesti 10-25 alkuainetta.
Smart on perustyökalu, jolla saa analysoitua kaikki raskaat alkuaineet nopeasti (ei Mg, Al, Si). Metallilaatujen tunnistus onnistuu luotettavasti laajan tunnistuskirjaston avulla.
Lataa esiteExpertiin on kalibroitu kaikki yleisimmät metalliseokset: teräkset (matalaseosteiset, rst, haponkestävä, korkeaseosteiset ym), nikkeliseokset, kuparit/messingit/pronssit, Co-, Pb-, Sn- ja Ti-seokset, sekä Al ja Mg-seokset. Lisäksi muiden seostyyppien tunnistus.
Lataa esiteOptimumilla saa analysoitua myös alkuaineet Mg, Al ja Si, eli alumiiniseosten luokittelu onnistuu ja Si-pitoisuuden saa analysoitua teräksistä. Soveltuu hyvin myös pinnoitteiden määrän/paksuuden mittaamiseen.
Lataa esiteExpert analysoi kattavan valikoiman alkuaineita. Se voidaan kalibroida sovelluskohtaisesti pitoisuuksiltaan tunnetuilla näytesarjoilla, jolloin analyysitarkkuus saadaan optimoitua. Expertillä voi analysoida luotettavasti myös matalia pitoisuuksia (<0.1-0.2%). Vakiovarusteena kamera, joka helpottaa mittauskohtaan tähtäämistä.
Lataa esiteMaaperän raskasmetallimäärityksiin (mm. V, Cr, Ni, Cu, Zn, As, Cd, Hg, Pb). Erittäin luotettava ja stabiili laite vaativiin kenttämittauksiin. GPS:llä saa talteen mittauspaikan koordinaatit ja tulokset voi tallentaa suoraan pilveen.
Lataa esiteTehdaskalibroinnissa kattava valikoima alkuaineita, myös Mg, Al, Si. Tulokset saadaan myös suoraan oksidimuodossa. GPS:llä saa talletettua mittauspaikan koordinaatit ja tulokset voi tallentaa suoraan pilveen.
Lataa esiteKalibroitu valmiiksi RoHS-direktiivissä määriteltyjen alkuaineiden mittaukseen. Valmiit hyväksymis-/hylkäysrajat värikoodeineen helpottavat tulokset tulkintaa. Kameran avulla voi tähdätä tarkasti mittauskohtaan.
Lataa esiteSmartiin on kalibroitu teräkset (matalaseosteiset, rst, haponkestävä, korkeaseosteiset ym) ja nikkeliseokset. Optiona saatavilla kuparit/messingit/pronssit sekä Co-, Pb-, Sn- ja Ti-seokset. Lisäksi muiden seostyyppien tunnistus, mutta ei Mg- ja Al-seoksia.
Lataa esite
Pro2 on suunniteltu valimoille, terästehtaille ja tutkimuslaitoksille. Erittäin hyvä pitkän ajan stabiilisuus ja analyysitarkkuus. Myös alhaiset typpimääritykset. Uusi SpArcfire-analyysiohjelmisto.
Lataa esiteOptimumiin voidaan kalibroida useat yleisimmät metalliseokset: Fe-, Al-, Cu-, Ni-, Co-, Mg-, Ti- ja Zn-pohjaiset seokset. Tarkka hiilen analyysi teräksistä ja valuraudoista.
Lataa esite
Markkinoiden pienikokoisin OES-analysaattori, jolla myös hiilen matalat pitoisuudet (<0,03%) voidaan analysoida, eli erotella esim. 304L ja 316L tavallisista 304/316-laaduista.
Expert on Hitachin uusin OES-analysaattori. Erittäin hyvä pitkän ajan stabiilisuus ja analyysitarkkuus. Myös typpimääritykset teräksistä. Uusi SpArcfire-analyysiohjelmisto.
Erittäin luotettava, stabiili ja helppokäyttöinen. Soveltuu erinomaisesti laadunvarmistuksen rutiinimittauksiin.
Yleisimpiä sovelluksia ovat piipinnoitteen määrän mittaaminen paperin päältä ja rikkipitoisuuden mittaaminen öljyssä (mm. standardien ASTM D4294, ISO 8754 ja ISO 20847 mukaisesti).
Helppokäyttöinen, luotettava ja monipuolinen XRF-analysaattori moniin käyttökohteisiin.
X-Supremella voi tehdä mittauksia standardien ASTM D4294, ISO8754, ISO20847 ja ISO13032 mukaisesti.
Yksi- tai monikerrospinnoitteiden määrittämiseen. Max näytekoko 270 x 500 x 150 mm
Yksi- tai monikerrospinnoitteiden määrittämiseen. Suuri näytepöytä, max näytekoko 500 x 400 x 150 mm.
Automaattisten toimintojen ansoista helppokäyttöinen ja nopea.
Yksi- tai monikerrospinnoitteiden määrittämiseen. Erittäin suuri mittauskammio, näytteen max koko 600 x 600 x 20 mm. Täysin moottoroitu mittauspöytä.
Automaattisten toimintojen ansoista helppokäyttöinen ja nopea. Huippuluokan laite sovelluksiin, joissa mittauspisteitä on paljon ja näytteiden määrä on suuri.
XRF-analysaattorit
X-MET -analysaattorit ovat kannettavia ja kenttäkäyttöisiä, mutta soveltuvat pöytätelineen kanssa myös laboratoriokäyttöön ja tuotannon laadunvalvontaan. Alkuaineanalyysin mittausalue kattaa alkuaineet magnesiumista (Mg) uraaniin (U). Pöytämallisella X-Supremella voidaan analysoida myös natrium ja sitä raskaammat alkuaineet.
XRF-analysaattorit soveltuvat erittäin hyvin myös ohuiden, mikrometriluokkaa olevien pinnoitteiden paksuuden mittaukseen. X-Strata ja FT-sarjan laitteita käytetään erityisesti monikerrospinnoitteiden paksuuksien määrityksessä.
XRF-analysaattoreiden (X-Ray Fluorescence) toiminta perustuu röntgensäteilyyn, joka kohdistetaan kapeana keilana mittauskohteeseen. Säteilyn vaikutuksesta alkuaineiden atomien elektronit siirtyvät elektronikuorelta toiselle. Samalla emittoituu atomille ominaista fluoresenssisäteilyä, jonka ilmaisin (detektori) tunnistaa. Menetelmää kutsutaan energiadispersiiviseksi röntgenfluoresenssiksi (EDXRF).
OES-analysaattorit
Metallien tärkeät seos- ja haitta-aineet kuten hiili, rikki, fosfori, boori ja typpi saadaan analysoitua tarkasti pöytä- ja lattiamallisilla OES-analysaattoreilla. XRF- ja LIBS-tekniikoilla niiden analysointi ei onnistu riittävällä tarkkuudella. Liikutettavia OES-laitteita käytetään metalliosien analysointiin ja niiden koostumuksen varmistamiseen erityisesti hiilianalyysin tarkkuuden takia.
OES-menetelmässä poltetaan katkottua valokaarta mittapään elektrodin ja analysoitavan pinnan välillä samoin kuin hitsauksessa. Valokaaren avulla saadaan muodostettua plasma. Valokaaren valo ohjataan spektrometriin, joka hajottaa valon alkuaineille ominaisiksi aallonpitoisuuksiksi. Alkuaineiden pitoisuudet lasketaan detektorille tulevien aallonpituussignaalien voimakkuuksista.
LIBS-analysaattorit
Uusi LIBS-tekniikka (Laser Induced Breakdown Spectroscopy) on samankaltainen OES-tekniikan kanssa, mutta LIBS-laitteissa plasma muodostetaan laserin avulla. Analysaattorissa on valmiit tehdaskalibroinnit kaikille yleisimmille metalliseoksille. Mittaus on erittäin nopea, vain 1-2 sekuntia. Lyhyt mittausaika on etu kun mitattavia osia ja kappaleita on paljon. Toinen LIBS-laitteiden etu on se, että niiden käyttäjät eivät tarvitse XRF-tekniikan käyttämiseen vaadittavaa säteilyturvallisuuslupaa.
Viime vuosina VULCAN LIBS-analysaattoreiden käyttäjämäärät ovat kasvaneet kiihtyvällä vauhdilla. VULCANin nopeus, luotettavuus ja analyysitarkkuus ovat keränneet käyttäjiltä kiitosta metallitehtaiden ja konepajojen laadunvarmistuksessa ja varastolaatujen tarkastuksessa, sekä kierrätysmetallilaatujen luokittelussa.
010 328 9980
