NenoVision LiteScope AFM

NenoVisionin LiteScope AFM on monipuolinen atomivoimamikroskooppi, joka asennetaan elektronimikroskoopin kammioon. LiteScope on yhteensopiva lähes kaikkien elektronimikroskooppivalmistajien kanssa, myös Finfocuksen edustaman Tescanin kanssa. Tescanin laitevalikoimaan voi tutustua tästä.

   

LiteScope AFM on suunniteltu käytettäväksi elektronimikroskoopin kanssa, mutta tarvittaessa, sen voi asentaa myös omassa kokonaisuudessaan myös pöydällä käytettäväksi. Kuitenkin parhaan tuloksen saamiseksi, suositellaan elektronimikroskoopin (SEM) käyttöä laitteiston kanssa.

   

LiteScope AFM ja SEM yhdistelmä mahdollistaa monipuolisen ja kattavan tutkimustiedon saamisen, menetelmää kutsutaan CPEM menetelmäksi, eli Correlative Probe and Electron Microscopy -menetelmäksi. CPEM-menetelmällä tarkoitetaan kahden tai useamman menetelmän käyttämistä samasta näytteestä ja tarkalleen samasta kohdasta näytettä. Tämä on usein haastavaa, sillä näytteitä siirretään mittausmenetelmien välillä, mutta LiteScope AFM ja SEM yhdistelmällä tämä on helppoa ja vaivatonta, sillä LiteScope AFM on asetettu SEM kammioon, ja molemmat menetelmät tutkivat näytettä samanaikaisesti samasta kohdasta. Kerromme mielellämme lisää, otathan yhteyttä!

NenoVision
LiteScope AFM

  • SEM kammioon asennettava
  • Resoluutio XYZ (nm): 0,2x0,2x0,04
  • Korrelatiivinen mikroskopiatekniikka

NenoVisionin LiteScope AFM on suunniteltu toimimaan elektronimikroskoopin kammiossa antaen mahdollisuuden korrelatiiviseen elektronimikroskopiaan (CPEM: Correlative Probe and Electron Microscopy). Tekniikalla on mahdollista helposti yhdistään elektronimikroskoopilta saatu tieto, mukaanlukien alkuainekoostumukset (EDS, WDS) ja atomivoimamikroskoopilta saatu tieto, kuten topografia tai sahköisiä ominaisuuksia.

Lataa esite
Soita 010 328 9980 ja kysy lisää Pyydä demo tai jätä yhteydenottopyyntö