XRF-analysaattori

Suodata tuotteita:

XRF-analysaattori mahdollistaa nestemäisten, jauhemaisten tai kiinteiden materiaalien analysoinnin.

Kannettava XRF-analysaattori sopii käytettäväksi materiaalien tunnistuksessa (esim. PMI). Laitteet sopivat esimerkiksi nopeaan alkuaineanalyysiin, romu- ja kierrätysmetallien lajitteluun, malminetsintään, kaivosnäytteiden analysointiin, maaperän raskasmetallien kartoittamiseen sekä RoHS-mittauksiin. Analysoitavat näytteet voivat olla nestemäisiä, jauhemaisia tai kiinteitä materiaaleja.


Pöytämallinen XRF-analysaattori puolestaan soveltuu esimerkiksi rikin ja kloorin analysointini öljystä tai dieselistä, silikonin määrän analysoiminen paperin pinnalta tai sementin analyysi.


Lue lisää

X-MET8000 Smart
XRF-analysaattori

  • Tehokas peruslaite
  • Alkuaineet K – U
  • Röntgenputki 40 kV

Smart on perustyökalu, jolla saa kaikki raskaat alkuaineet nopeasti analysoitua (Ei Mg, Al, Si). Metallilaatujen tunnistus onnistuu luotettavasti laajan tunnistuskirjaston avulla.

Lataa esite

X-MET8000 Optimum
XRF-analysaattori

  • Kaikille metallilaaduille
  • Alkuaineet Mg – U
  • Röntgenputki 40 tai 50 kV

Optimumilla saa analysoitua myös alkuaineet Mg, Al ja Si, jolloin Al- ja Mg-seosten analysointi helpottuu, sekä mm. määritettyä piin (Si) teräksissä. Soveltuu hyvin pinnoitteiden määrän/paksuuden mittaamiseen.

Lataa esite

X-MET8000 Expert
XRF-analysaattori

  • Monipuolisin XRF
  • Alkuaineet Mg – U
  • Röntgenputki 50 kV

Expert analysoi kattavan valikoiman alkuaineita. Se voidaan kalibroida sovelluskohtaisesti, omilla näytesarjoilla, jolloin analyysitarkkuus saadaan optimoitua. Expertillä voi analysoida luotettavasti myös matalia pitoisuuksia (<0.1-0.2%). Vakiona kamera mittauskohtaan tähtäämiseen.

Lataa esite

X-MET8000 Geo - Soil
XRF-analysaattori

  • Maaperänäytteille
  • PIMA-mittauksiin
  • Röntgenputki 50 kV

Maaperän raskasmetalli-määrityksiin (mm. V, Cr, Ni, Cu, Zn, As, Cd, Hg, Pb). Erittäin luotettava ja stabiili laite vaativiin kenttämittauksiin. GPS:llä talteen mittauskohdan koordinaatit ja tulosten tallennus suoraan pilveen.

Lataa esite

X-MET8000 Geo - Soil/Mining XRF-analysaattori

  • Malminetsintään
  • Malmien analysointiin
  • Röntgenputki 50 kV

Kattava valikoima alkuaineita kalibroituna valmiiksi, myös Mg, Al, Si. Tulokset saadaan myös suoraan oksidimuodossa. GPS:llä talteen mittauskohdan koordinaatit ja tulosten tallennus suoraan pilveen.

Lataa esite

X-MET8000 CG (RoHS)
XRF-analysaattori

  • RoHS-mittauksiin
  • Cd, Cr, Pb, Hg, As analyysi
  • Kamera tähtäykseen

Kalibroitu valmiiksi RoHS-direktiivissä määriteltyjen alkuaineiden mittaukseen. Valmiit hyväksymis/hylkäysrajat värikoodeineen helpottavat tulokset tulkintaa. Kameran avulla voi tähdätä tarkasti mittauskohtaan.

Lataa esite

Lab-X5000
XRF-analysaattori

  • Alkuainealue Mg - U
  • 1 näyte kerrallaan
  • Kosketusnäyttö

Erittäin helppo käyttää rutiinimittauksiin. Luotettava ja hyvä pitkän ajan stabiilisuus.

Lab-X5000:lla voi tehdä mittauksia standardien ASTM D4294, ISO 8754 ja ISO 20847 mukaisesti.

X-Supreme
XRF-analysaattori

  • Alkuainealue Na - U
  • 10 näytteen näytetarjotin
  • Windows käyttöjärjestelmä

Helppokäyttöinen, luotettava ja monipuolinen XRF-analysaattori moniin käyttökohteisiin.

X-Supremelle voi tehdä mittauksia standardien ASTM D4294, ISO8754, ISO20847 ja ISO13032 mukaisesti.

X-Strata920
pinnoitteiden mittaamiseen

  • Alkuainealue Ti – U / Al - U
  • Pöytä kiinteä tai moottoroitu


Max näytekoko 270 x 500 x 150 mm

FT110A
pinnoitteiden mittaamiseen

  • Alkuainealue Ti – U
  • Pöytä kiinteä tai moottoroitu

Max näytekoko 500 x 400 x 150 mm

FT150
pinnoitteiden mittaamiseen

  • Alkuainealue Al – U
  • SDD detektori
  • suurille näytteille

Erittäin suuri mittauskammio, näytteen max koko 600 x 600 x 20 mm. Täysin moottoroitu mittauspöytä.

Soita 010 328 9980 ja kysy lisää Pyydä demo tai jätä yhteydenottopyyntö


XRF-analysaattori jokaiseen tarpeeseen

X-MET laitesarjan historia on Suomessa pitkä. Se suunniteltiin jo 1970-80 -luvuilla Outokumpu Oy:n malminetsinnän tarpeisiin. Vuodesta 1994 lähtien Metorex Oy jatkoi X-MET analysaattoreiden kehittämistä, kunnes nämä XRF-analysaattorit myytiin Oxford Instrumentsille. Vuonna 2017 Hitachi High-Tech osti X-METit muiden Oxford Instrumentsin XRF-, OES ja LIBS-analysaattoreiden mukana.

Näiden laitteiden kehitys jatkuu edelleen Hitachin toimipaikassa Espoossa, osana Hitachin maailmanlaajuista organisaatiota.

Piirros XRF-analysaattorin toiminnasta

X-MET8000 Smart, Optimum ja Expert soveltuvat metalliseosten ja monien muiden materiaalien koostumuksen analysointiin, sekä myös nestemäisten ja jauhemaisten näytteiden analysointiin. Laitteet voidaan kalibroida lähes mihin tahansa sovellukseen analysoimaan alkuaineiden koostumuksia eri materiaaleissa.


X-MET8000 GEO
on suunniteltu erityisesti maaperänäytteiden (Soil) ja kaivos-/malminäytteiden (Mining) analysointiin. Määritysrajat ovat raskaille alkuaineille muutamasta ppm:stä kymmeniin ppm:iin ja kevyille alkuaineille (Mg, Al, Si) suuremmat.


X-MET8000 CG
on RoHS-mittauksiin soveltuva laitemalli, johon on valmiiksi ohjelmoitu RoHS-direktiivin raja-arvot haitallisille alkuaineille Pb, Cd, Hg, Br ja Cr.


Lab-X
analysaattorit ovat olleet vuosikymmeniä käytössä mm. öljyn ja dieselin analysoinnissa, sekä paperitehtaiden laadunvalvonnassa. Oxford Instrumentsin nimi on käsite tällä alalla, ja nyt laitesarjaa kehittää edelleen Hitachi. Uusin malli on Lab-X5000, jossa voidaan analysoida yksi näyte kerrallaan. Useamman näytteen analysointi 10-paikkaiselle näytepöydällä puolestaan onnistuu X-Supremella.


X-Strata920
on erityisesti pinnoitteiden ja pinnoitekerrosten mittaamiseen ja analysointiin soveltuva XRF-analysaattori. Siihen saa tilattua monia tehdaskalibrointeja, jotka ovat heti valmiina käyttöön. Tyypillisiä käyttökohteita ovat esimerkiksi metalli- ja muoviosien sekä elektroniikkateollisuuden komponenttien yksi- ja monikerrospinnoitteiden määritykset. Usein mitataan pinnoitekerroksien paksuuksia, mutta myös pinnoitteen koostumus voidaan analysoida.

Omat sovelluskohtaiset kalibroinnit

Kaikki Hitachin XRF-analysaattorit on helposti kalibroitavissa itse omilla näytteillä. Kalibrointiin tarvitaan noin 5-20 kpl näytteitä, joiden pitoisuudet tunnettaan. Kalibrointiohjelmassa huomioidaan useita tekijöitä, esimerkiksi näytematriisin vaihtelut ja tärkeimpiä alkuaineita häiritsevät alkuaineet. Ohjelmisto on koulutuksen jälkeen helppo käyttää. Sovelluskohtaisilla kalibroinneilla saavutetaan usein hyviä tuloksia mittauksen kokonaisvirheen jäädessä erittäin pieneksi.