Kannettava XRF- analysaattori tunnistaa erilaisia metallilaatuja (positiivinen materiaalintunnistus PMI) ja analysoida nopeasti erilaisten näytteiden alkuainepitoisuuksia esimerkiksi romu- ja kierrätysmetalleja lajittelussa, malminetsinnässä, kaivosnäytteitä analysoitaessa, maaperän raskasmetalleja kartoitettaessa (PIMA) ja RoHS-mittauksissa. Analysoitavat näytteet voivat olla kiinteitä, nesteitä tai jauheita.
Pöytämallinen XRF- analysaattori soveltuu esimerkiksi rikin ja kloorin analysointiin öljystä tai dieselistä, silikonipinnoitteen paksuuden analysointiin paperin pinnalta tai sementin alkuaineanalyysiin.
Näytetään kaikki 6 tulosta
X-MET -analysaattorien historia on Suomessa pitkä. Se suunniteltiin 1960-70 -luvuilla Outokumpu Oy:n malminetsinnän tarpeisiin. Vuodesta 1994 eteenpäin Metorex International Oy jatkoi X-MET -analysaattoreiden kehittämistä, kunnes 2004 XRF-analysaattorit myytiin Oxford Instrumentsille. Vuonna 2017 Hitachi High-Tech osti X-METit muiden Oxford Instrumentsin XRF-, OES ja LIBS-analysaattoreiden mukana.
Analysaattoreiden kehitys jatkuu edelleen Hitachin toimipaikassa Espoossa, osana Hitachin maailmanlaajuista organisaatiota.
X-MET8000 Smart, Optimum ja Expert soveltuvat erilaisten metallilaatujen ja muiden kiinteiden materiaalien, jauheiden sekä nesteiden alkuainepitoisuuksien analysointiin. X-MET8000 voidaan kalibroida lähes mihin tahansa sovellukseen, jos asiakkaalta löytyy pitoisuuksiltaan tunnettu kalibrointinäytesarja.
X-MET8000 GEO on suunniteltu erityisesti maaperänäytteiden (PIMA) ja kaivos-/malminäytteiden (Mining) analysointiin. Raskaille alkuaineille määritysrajat ovat muutamasta ppm:stä kymmeniin ppm:iin, ja kevyille alkuaineille (Mg, Al, Si…) korkeammat.
X-MET8000 CG on RoHS-mittauksiin soveltuva analysaattori, jossa on valmis tulosformaatti RoHS-direktiivin määrittämien haitallisten alkuaineiden (Pb, Cd, Hg, Br ja Cr) raja-arvoille.
Lab-X analysaattoreita on käytetty vuosikymmeniä mm. öljyn ja dieselin analysoinnissa, sekä paperitehtaiden laadunvalvonnassa. Oxford on pitkän historiansa ansiosta kannettavien XRF-analysaattoreiden maailmassa käsite, nykyisin laitteita kehittää Hitachi. Uusin laitemalli on Lab-X5000. Ssanalysoi yhden näytteen kerrallaan. Useamman näytteen analysointi onnistuu X-Supremella, jossa on 10-paikkainen näytetarjotin.
X-Strata920 on erilaisten pinnoitteiden (myös monikerrospinnoitteet) analysointiin soveltuva XRF-analysaattori. Useimmat pinnoitteet saa analysoitua ennen toimitusta tehtaalla tehdyillä kalibroinneilla, eli laite on saapuessaan heti käyttövalmis. Tyypillisiä käyttökohteita ovat esimerkiksi metalli- ja muoviosien sekä elektroniikkateollisuuden komponenttien yksi- ja monikerrospinnoitteiden analysointi. Laitteella voidaan analysoida pinnoitekerroksien paksuudet ja alkuainekoostumus.
Omat sovelluskohtaiset kalibroinnit
Kaikki Hitachin XRF-analysaattorit on helposti kalibroitavissa asiakkaan omalla kalibrointinäytesarjalla. Kalibrointiin tarvitaan sovelluksesta riippuen vähintään 6 alkuainepitoisuuksiltaan tunnettua näytettä. Kalibrointiohjelma huomioi monia tekijöitä, esimerkiksi näytematriisin mahdollisen vaihtelun ja kiinnostavia alkuaineita mahdollisesti häiritsevät alkuaineet. Analysaattorin kalibrointiohjelmistoa on koulutuksen jälkeen helppo käyttää. Asiakkaan omalla kalibrointinäytesarjalla tehdyllä kalibroinnilla saavutetaan usein paras mahdollinen analyysitarkkuus.
Ota yhteyttä asiantuntijaamme, niin etsitään tarpeisiisi sopivin analysaattori!
Finfocus Instruments Oy tuo maahan, myy ja huoltaa laitteita metallien, muiden materiaalien ja maaperän analysointiin, mittaamiseen, tutkimiseen sekä näytteiden käsittelyyn. Laitetoimitukseen sisältyy aina käyttökoulutus.
Finfocus Instruments Oy
Hiomotie 32
00380 Helsinki
info@finfocus.fi
010 328 9980
