XRF- analysaattori

Suodata tuotteita:

XRF- analysaattori nesteiden, jauheiden tai kiinteiden näytteiden analysointiin

Kannettava XRF- analysaattori sopii käytettäväksi materiaalien tunnistuksessa (esim. PMI). Analysaattori sopii esimerkiksi nopeaan alkuaineanalyysiin, romu- ja kierrätysmetallien lajitteluun, malminetsintään, kaivosnäytteiden analysointiin, maaperän raskasmetallien kartoittamiseen sekä RoHS-mittauksiin. Analysoitavat näytteet voivat olla nestemäisiä, jauhemaisia tai kiinteitä materiaaleja.

Pöytämallinen XRF- analysaattori puolestaan soveltuu esimerkiksi rikin ja kloorin analysointiin öljystä tai dieselistä, silikonipinnoitteen paksuuden analysointiin paperin pinnalta tai sementin alkuaineanalyysiin.

  

Kysy lisää XRF-analysaattoreista


Lue lisää

X-MET8000 Smart
XRF-analysaattori

  • Tehokas peruslaite
  • Alkuaineet K – U
  • Röntgenputki 40 kV

Smart on perustyökalu, jolla saa analysoitua kaikki raskaat alkuaineet nopeasti (ei Mg, Al, Si). Metallilaatujen tunnistus onnistuu luotettavasti laajan tunnistuskirjaston avulla.

Lataa esite

X-MET8000 Optimum
XRF-analysaattori

  • Kaikille metallilaaduille
  • Alkuaineet Mg – U
  • Röntgenputki 40 tai 50 kV

Optimumilla saa analysoitua myös alkuaineet Mg, Al ja Si, eli alumiiniseosten luokittelu onnistuu ja Si-pitoisuuden saa analysoitua teräksistä. Soveltuu hyvin myös pinnoitteiden määrän/paksuuden mittaamiseen.

Lataa esite

X-MET8000 Expert
XRF-analysaattori

  • Monipuolisin XRF
  • Alkuaineet Mg – U
  • Röntgenputki 50 kV

Expert analysoi kattavan valikoiman alkuaineita. Se voidaan kalibroida sovelluskohtaisesti pitoisuuksiltaan tunnetuilla näytesarjoilla, jolloin analyysitarkkuus saadaan optimoitua. Expertillä voi analysoida luotettavasti myös matalia pitoisuuksia (<0.1-0.2%). Vakiovarusteena kamera, joka helpottaa mittauskohtaan tähtäämistä.

Lataa esite

X-MET8000 Geo - Soil
XRF-analysaattori

  • Maaperänäytteille
  • PIMA-mittauksiin
  • Röntgenputki 50 kV

Maaperän raskasmetallimäärityksiin (mm. V, Cr, Ni, Cu, Zn, As, Cd, Hg, Pb). Erittäin luotettava ja stabiili laite vaativiin kenttämittauksiin. GPS:llä saa talteen mittauspaikan koordinaatit ja tulokset voi tallentaa suoraan pilveen.

Lataa esite

X-MET8000 Geo - Soil/Mining XRF-analysaattori

  • Malminetsintään
  • Malmien analysointiin
  • Röntgenputki 50 kV

Tehdaskalibroinnissa kattava valikoima alkuaineita, myös Mg, Al, Si. Tulokset saadaan myös suoraan oksidimuodossa. GPS:llä saa talletettua mittauspaikan koordinaatit ja tulokset voi tallentaa suoraan pilveen.

Lataa esite

X-MET8000 CG (RoHS)
XRF-analysaattori

  • RoHS-mittauksiin
  • Cd, Cr, Pb, Hg, As analyysi
  • Kamera tähtäykseen

Kalibroitu valmiiksi RoHS-direktiivissä määriteltyjen alkuaineiden mittaukseen. Valmiit hyväksymis-/hylkäysrajat värikoodeineen helpottavat tulokset tulkintaa. Kameran avulla voi tähdätä tarkasti mittauskohtaan.

Lataa esite

Lab-X5000
EDXRF-analysaattori

  • Alkuainealue N - U
  • Yksi näyte kerrallaan
  • Kosketusnäyttö

Erittäin luotettava, stabiili ja helppokäyttöinen. Soveltuu erinomaisesti laadunvarmistuksen rutiinimittauksiin.

 

Yleisimpiä sovelluksia ovat piipinnoitteen määrän mittaaminen paperin päältä ja rikkipitoisuuden mittaaminen öljyssä (mm. standardien ASTM D4294, ISO 8754 ja ISO 20847 mukaisesti).

X-Supreme
EDXRF-analysaattori

  • Alkuainealue Na - U
  • Näytetarjotin 10 näytteelle
  • Kosketusnäyttö

Helppokäyttöinen, luotettava ja monipuolinen XRF-analysaattori moniin käyttökohteisiin.

 

X-Supremella voi tehdä mittauksia standardien ASTM D4294, ISO8754, ISO20847 ja ISO13032 mukaisesti.

X-Strata920
pinnoitteiden mittaamiseen

  • Alkuainealue Ti – U / Al - U
  • Kiinteä tai moottoroitu pöytä



Yksi- tai monikerrospinnoitteiden määrittämiseen. Max näytekoko 270 x 500 x 150 mm

FT110A
pinnoitteiden mittaamiseen

  • Alkuainealue Ti – U
  • Kiinteä tai moottoroitu pöytä


Yksi- tai monikerrospinnoitteiden määrittämiseen. Suuri näytepöytä, max näytekoko 500 x 400 x 150 mm.

 

Automaattisten toimintojen ansoista helppokäyttöinen ja nopea.

FT150
pinnoitteiden mittaamiseen

  • Alkuainealue Al – U
  • SDD detektori
  • suurille näytteille

Yksi- tai monikerrospinnoitteiden määrittämiseen. Erittäin suuri mittauskammio, näytteen max koko 600 x 600 x 20 mm. Täysin moottoroitu mittauspöytä.

  

Automaattisten toimintojen ansoista helppokäyttöinen ja nopea. Huippuluokan laite sovelluksiin, joissa mittauspisteitä on paljon ja näytteiden määrä on suuri.

Soita 010 328 9980 ja kysy lisää Pyydä demo tai jätä yhteydenottopyyntö


XRF-analysaattori kaikkiin tarpeisiin

X-MET -analysaattorin historia on Suomessa pitkä. Se suunniteltiin jo 1970-80 -luvuilla Outokumpu Oy:n malminetsinnän tarpeisiin. Vuodesta 1994 eteenpäin Metorex Oy jatkoi X-MET -analysaattoreiden kehittämistä, kunnes XRF-analysaattorit myytiin Oxford Instrumentsille. Vuonna 2017 Hitachi High-Tech osti X-METit muiden Oxford Instrumentsin XRF-, OES ja LIBS-analysaattoreiden mukana.

Analysaattoreiden kehitys jatkuu edelleen Hitachin toimipaikassa Espoossa, osana Hitachin maailmanlaajuista organisaatiota.

Piirros XRF-analysaattorin toiminnasta

X-MET8000 Smart, Optimum ja Expert soveltuvat metalliseosten ja monien muiden materiaalien koostumuksen analysointiin, myös nesteiden ja jauheiden analysointiin. Laitteet voidaan kalibroida lähes mihin tahansa sovellukseen analysoimaan alkuaineiden koostumuksia eri materiaaleista.


X-MET8000 GEO
on suunniteltu erityisesti maaperänäytteiden (Soil) ja kaivos-/malminäytteiden (Mining) analysointiin. Määritysrajat ovat raskaille alkuaineille muutamasta ppm:stä kymmeniin ppm:iin ja kevyille alkuaineille (Mg, Al, Si) korkeammat.


X-MET8000 CG
on RoHS-mittauksiin soveltuva analysaattori, johon on valmiiksi ohjelmoitu RoHS-direktiivin raja-arvot haitallisille alkuaineille (Pb, Cd, Hg, Br ja Cr).


Lab-X
analysaattorit ovat olleet vuosikymmeniä käytössä mm. öljyn ja dieselin analysoinnissa, sekä paperitehtaiden laadunvalvonnassa. Oxford Instrumentsin nimi on käsite näillä aloilla, ja nyt laitesarjaa kehittää edelleen Hitachi. Uusin malli on Lab-X5000. Sillä voidaan analysoida yksi näyte kerrallaan. Useamman näytteen analysointi 10-paikkaisella näytetarjottimella onnistuu X-Supremella.


X-Strata920
on erityisesti pinnoitteiden ja pinnoitekerrosten mittaamiseen ja analysointiin soveltuva XRF-analysaattori. Siihen saa tilattua monia tehdaskalibrointeja, jotka ovat heti valmiina käyttöön. Tyypillisiä käyttökohteita ovat esimerkiksi metalli- ja muoviosien sekä elektroniikkateollisuuden komponenttien yksi- ja monikerrospinnoitteiden määritykset. Laitteella mitataan usein pinnoitekerroksien paksuuksia, mutta myös pinnoitteen koostumus voidaan analysoida.

Omat sovelluskohtaiset kalibroinnit

Kaikki Hitachin XRF-analysaattorit on helposti kalibroitavissa itse omilla näytteillä. Kalibrointiin tarvitaan noin 5-20 kpl näytteitä, joiden pitoisuudet tunnetaan. Kalibrointiohjelman avulla huomioidaan useita tekijöitä, esimerkiksi näytematriisin vaihtelut ja tärkeimpiä alkuaineita häiritsevät alkuaineet. Ohjelmistoa on koulutuksen jälkeen helppo käyttää. Sovelluskohtaisilla kalibroinneilla saavutetaan usein hyviä tuloksia mittauksen kokonaisvirheen jäädessä erittäin pieneksi.

Ota yhteyttä ja kysy lisää analysaattoreista

Ota yhteyttä asiantuntijaamme, niin autamme sinua löytämään oikean analysaattorin tarpeisiisi!

  

Yhteystiedot