TESCAN CLARA FEG-SEM elektronimikroskooppi

Tescan CLARA laitteistosta on saatavilla samat kammiokoot kuin MIRA 4 laitteistostakin (LM/GM), mutta CLARA poikkeaa MIRA 4 mallistosta elektronikolumnin puolelta merkittävästi. CLARA elektronimikroskoopissa on BrightBeam elektroni kolumni, joka mahdollistaa erittäin alhaisten kiihdytysjänniteiden hyödyntämisen korjaamalla elektronisäteen vääristymiä ja parantamalla emittoituneiden elektronien intensiteettiä. Tämä myös osaltaan mahdollistaa heikosti johtavien näytteiden kuvaamisen.

CLARA elektronimikroskoopissa on mahdollista suodattaa elektroneja niiden energian ja emittoitumiskulman mukaisesti, niin kutsutun multidetektorin avulla. Tällä detektorilla on mahdollista saada erittäin tarkkaa pinnanmuoto- että koostumuksellista informaatiota, mitä ei normaaleilla detektoreille välttämättä pystytä näkemään. Multidetektori on sijoitettu elektronikolumniin, vastaavasti kuin kolumnin sisällää olevat SE ja BSE detektorit. Kun yhdistetään BrightBeam teknologia ja multidetektori niin CLARAlla lähestytään jo immersiolinssien mahdollistamaa resoluutiota. Tästä syystä CLARA luokitellaan UHR elektronimikroskoopiksi (UHR = Ultra High Resolution).

CLARA elektronimikroskooppiin on myös mahdollista saada UniVac ominaisuus, jolla kammion painetta voidaan säätää 7 – 500 Pascalin välissä. CLARA kuten MIRA 4 laitteistoki hyödyntää samaa Tescanin Essence ohjelmaa, johon voidaan konfiguroida eri käyttäjille omia tilejä ja mahdollisesti eri tyyppisille näytteille omia proseduureja

BrightBeam™ UHR Kolumni
Korkean vakuumin laitteisto
Matala vakuumi optiona
Resoluutio:
0,8 nm @ 30 keV
1,3 nm @ 1 keV

Valmistaja: Tescan GROUP, a.s., Czech Republic

Lisätiedot

TESCAN CLARA on kenttäemissioon perustuva UHR-elektronimikroskooppi. Elektronimikroskoopin mukana tulee standardina SE-detektori ja sen lisäksi laitteisto on mahdollista varustaa monipuolisesti erilaisilla BSE-, EDS-, yms. detektoreilla.

Laitteisto on saatavilla kahdella erikokoisella kammiolla (LM ja GM) mikä mahdollistaa monipuolisesti erilaisten näytteiden tutkimisen. TESCAN CLARA elektronimikroskooppi on varustettu BrightBeam kolumnilla, joka mahdollistaa paremmin matalien kiihdytysjännitteiden käytön ja tästä syystä TESCAN CLARA toimii erityisen hyvin huonosti johtavien näytteiden kanssa.

Laitteiston kammiossa on 5-aksiaalinen kompusentrinen näytepöytä (X, Y, Z, tilt, rot), jonka liikealueet riippuvat kammion koosta.

Annamme mielellämme lisätietoja laitteistosta. Otathan yhteyttä alla olevalla lomakkeella

Ominaisuudet

Esitteet, Videot

Lataa tästä TESCAN CLARA elektronimikroskoopin esite:

TESCAN CLARA esite

Lisävarusteet

TESCAN CLARA4 elektronimikroskooppi on varustettavissa monilla erilaisilla lisävarusteilla.

Laitteistoon voidaan lisätä standardina tulevan SE-detektorin lisäksi BSE-detektori useammasta vaihtoehdosta, sekä muita detektoreja kuten STEM-, EDS-, EBSD-, RAMAN- ja CL-detektori. Detektorien lisäksi laitteistoon on saatavilla monia muita lisäosia.

Kerromme mielellämme lisää! Meihin voi ottaa yhteyttä alla olevalla lomakkeella tai sitten voit soittaa suoraan numeroon: 010 328 9980

Ota yhteyttä ja kysy lisää tuotteesta