Mitä etsit?
×
010 328 9980
|
info@finfocus.fi
Ota yhteyttä
Kirjaudu »
Kirjaudu
Etusivu
Tuotteet
Alkuaineanalyysit ja -analysaattorit
Hiili/rikki -analysaattorit
XRF-analysaattorit
Kannettavat
Pöytälaitteet
LIBS-analysaattorit ja laseranalysaattorit
OES-analysaattorit
OES/XRF-näytteenvalmistus
Metallografia
Katkaisulaitteet
Muovituslaitteet
Hionta- ja kiillotuslaitteet
Geologisille näytteille
Metallografia näytteenvalmistustarvikkeet
Katkaisu
Katkaisulaikat
Katkaisutarvikkeet
Valutuotteet
Kuumavalujauheet
Kylmävaluaineet
Valutarvikkeet
Hionta
Hiomalevyt ja paperit
Hiontatarvikkeet
Kiillotus
Kiillotuskankaat
Muut timanttituotteet
Oksidikiillotus
Timanttisuspensiot
Voiteluaineet
Replikamateriaalit
Yleistarvikkeet
SEM - elektronimikroskoopit
Pintaa koestavat menetelmät
NenoVision Litescope AFM-in-SEM
Imina MiBOT Mikro- ja nanomanipulaattorit
Näytteenvalmistus SEM-näytteille
Pinnoitus- ja sputterointilaitteet
Cryo-näytteenvalmistus
Critical Point Drying
Glow Discharge
SEM tarvikkeet
Plasmakäsittely
Kovuusmittarit
Vickers kovuusmittarit
Rockwell kovuusmittarit
Brinell kovuusmittarit
Yhdistelmäkovuusmittarit
Aineenkoestuskoneet
Aineenkoestuslaitteet / Vetokoneet
Iskuvasarat
Ostettavat tuotteet
Mikro-CT - Röntgentomografiset mikroskoopit
SEM - Elektronimikroskoopit (TESCAN)
W-SEM
FEG-SEM
FIB-SEM
STEM
Käyttökohteet
Alkuaineanalysaattoreiden käyttökohteet
Kierrätysmateriaalien analyysi ja luokittelu
PMI & materiaalien tunnistus
PIMA/raskasmetallien mittaus
RoHS-analyysit
Kaivos- ja malmianalyysit ja PIMA/raskasmetallien mittaus
Kvalitatiiviset analyysit
Elektronimikroskooppien käyttökohteet
Asbestin analysointi
Biologiset näytteet
Geologiset näytteet
Materiaalitutkimus
Puolijohdeteollisuus
Rahoitus
Palvelut
Koulutus
