Elektronimikroskopia

Suodata tuotteita:

Elektronimikroskoopit

Valikoimamme sisältää mm. SEM, FEG-SEM ja FIB-SEM elektronimikroskooppeja materiaalien tutkimiseen ja analysointiin. Lisäksi sputterointi- ja pinnoituslaitteita näytteenvalmistukseen.


TESCANin (pyyhkäisy)elektronimikroskooppimallistosta löytyy sopiva laite kaikkiin sovelluksiin:

  

QUORUMin laitteista löytyvät ratkaisut metallisputterointiin, hiilipinnoitukseen, Cryo-SEM näytteenkäsittelyyn ja muihin vaativiin näytteiden valmistuksen vaiheisiin.


Lue lisää

VEGA 4 Compact
Elektronimikroskooppi

  • Keskikokoinen kammio
  • High Vacuum laitteisto
  • Resoluutio: 3nm @ 30keV, 8nm @ 3keV

 

Tescan VEGA 4 Compact on täydellinen valinta jokapäiväiseen rutiinianalytiikkaan sekä kuvantamiseen, kun tarve on mikrometriluokan erotuskyvylle (saavutettavissa oleva resoluutio 3nm).

Lataa esite

VEGA 4 LM SEM
Elektronimikroskooppi

  • Keskikokoinen kammio
  • SingleVac (30Pa) mukana
  • Resoluutio: 3nm @ 30keV,  8nm @ 3keV


VEGA4 LM on myydyin VEGA-sarjan laitteista. Sen kammioon mahtuvat hyvin tyypillisimmät SEM näytteet. Laitteiston resoluutio soveltuu hyvin useimpien näytteiden rakenteen kuvantamiseen.

Lataa esite

VEGA 4 GM SEM
Elektronimikroskooppi

  • Erikoissuuri kammio
  • SingleVac (30Pa) mukana
  • Resoluutio: 3nm @ 30keV, 8nm @ 3keV

 

VEGA4 GM tarkoitettu erityisen suurille näytteille ja järjestelmille, joihin liitetään useita detektoreita (esim. EDS, WDS, EBSD, jne). Suuri kaamiokoko mahdollistaa myös suurempien ja painavampien näytteiden kuvantamisen. Kappale voi painaa jopa 8kg.

Lataa esite

MIRA 4 FEG-SEM
Elektronimikroskooppi

  • Analyyttinen kolumni
  • SingleVac vakiona/UniVac optio
  • Resoluutio:
    1,2nm@30keV (SE)

MIRA4 on suorituskykyinen SEM kaikkiin sovelluksiin.

Resoluutio:
1,2nm@30keV (SE), 3,5nm@30keV (in beam SE) ja 1,8nm@1keV (BDT:n kanssa)

SingleVac:
2,0nm@30keV (BSE) ja 1,5nm230keV (LVSTD)

Lataa esite

CLARA (UHR) FEG-SEM
Elektronimikroskooppi

  • BrightBeam™ UHR Kolumni
  • UniVac optiona
  • Resoluutio:
    0,8nm@30keV (STEM)


BrightBeam™ SEM kolumni ja uudet in-beam aksiaaliset detektorit. CLARA on korkean resoluution SEM kaikkiin sovelluksiin.

Resoluutio: 0,8nm@30keV (STEM), 0,9nm@15keV, 1,4nm@1keV

Lataa esite

MAGNA (UHR) FEG-SEM
Elektronimikroskooppi

  • Triglav™ UHR Kolumni
  • UniVac optiona
  • Resoluutio:
    0,5nm@30keV (STEM)

Triglav™ kolumni ja kehittyneet detektorit. MAGNA tarjoaa äärimmäistä suorituskykyä todella vaativaan SEM-kuvantamiseen. Paras suorituskyky ei-magneettisille näytteille.

Resoluutio: 0,5nm@30keV (STEM), 0,6nm@15keV, 1,2nm@1keV

Lataa esite

SOLARIS FIB-SEM
Elektronimikroskooppi

  • MAGNAan perustuva FIB
  • Gallium-lähde
  • FIBin resoluutio: 2.5nm@30kV


Ionilähteenä on yleisimmin käytetty Gallium-lähde. Gallium-ionisuihkulla saavutetaan loistava tarkkuus ja hyvä työstönopeus.

Lataa esite

SOLARIS X FIB-SEM
Elektronimikroskooppi

  • MAGNAan perustuva FIB
  • Xenon plasma -lähde
  • FIBin resoluutio:        <15nm@30kV (HR i-FIB+™), <25nm@30kV (i-FIB+™)

Gallium-ionisuihkuun verrattuna Xe-plasmalla saavutetaan huomattavasti suurempi työstönopeus, jolloin poikkileikkeiden tekeminen suuristakin kohteista onnistuu nopeasti. Työstövirta 1uA/2uA.

Lataa esite

AMBER X FIB-SEM
Elektronimikroskooppi

  • CLARAan perustuva FIB
  • Xenon plasma -lähde
  • FIBin resoluutio:           <15nm@30kV (HR i-FIB+™), <25nm@30kV (i-FIB+™)


Gallium-ionisuihkuun verrattuna Xe-plasmalla saavutetaan huomattavasti suurempi työstönopeus, jolloin poikkileikkeiden tekeminen suuristakin kohteista onnistuu nopeasti. Työstövirta 1uA/2uA.

Lataa esite

AMBER FIB-SEM
Elektronimikroskooppi

  • CLARAan perustuva FIB
  • Gallium lähde
  • FIBin resoluutio: 2.5nm@30kV



Ionilähteenä on yleisimmin käytetty Gallium-lähde. Gallium-ionisuihkulla saavutetaan loistava tarkkuus ja hyvä työstönopeus.

Lataa esite

Q150R
Sputterointi-/pinnoituslaite

  • Automaattinen
  • W-SEM pinnoitukseen
  • Metalli- ja/tai hiilipinnoitus


SEM näytteiden pinnoitukseen, turbopumpulla päästään 2 x 10-3 mbar vakuumitasoon. Muistiin voi tallentaa pinnoitusreseptejä. Helppokäyttöinen väri-LED-näyttö.
 
Q150R S Plus - sputterointilaite
Q150R E Plus - hiilipinnoitukseen
Q150R ES Plus - sputterointi + hiilipinnoitus

Lataa esite

Q150T
Sputterointi-/pinnoituslaite

  • Automaattinen
  • W-SEM ja FESEM pinnoitukseen
  • Metalli- ja/tai hiilipinnoitus


Ohuille pinnoituksille, turbopumpulla päästään 5 x 10-5 mbar vakuumitasoon. Muistiin voi tallentaa pinnoitusreseptejä. Helppokäyttöinen väri-LED-näyttö.
 
Q150T S Plus - sputterointilaite
Q150T E Plus - hiilipinnoitukseen
Q150T ES Plus - sputterointi + hiilipinnoitus

Lataa esite

Q150V
Sputterointi-/pinnoituslaite

  • Automaattinen
  • W-SEM, FESEM, TEM pinnoitukseen
  • Metalli- ja/tai hiilipinnoitus


Erittäin ohuille pinnoituksille, turbopumpulla päästään 1 x 10-6 mbar vakuumitasoon. Muistiin voi tallentaa pinnoitusreseptejä. Helppokäyttöinen väri-LED-näyttö.
 
Q150V S Plus - sputterointilaite
Q150V E Plus - hiilipinnoitukseen
Q150V ES Plus - sputterointi + hiilipinnoitus

Lataa esite

Q300T T
Sputterointi-/pinnoituslaite

  • Automaattinen
  • W-SEM ja FESEM pinnoitukseen
  • Suuri kammio


Kuten Q150T, mutta suurella kammiolla. Soveltuu suurien kappaleiden pinnoitukseen. Kolme target-päätä, näytteen max halkaisija 200mm. Helppokäyttöinen väri-LED-näyttö.

Lataa esite

Q300T D
Sputterointi-/pinnoituslaite

  • Automaattinen
  • W-SEM ja FESEM pinnoitukseen
  • Kammio 150mm näytteille


Kaksi target päätä, joilla voidaan pinnoittaa vuorotellen. Turbopumpulla päästään 5 x 10-5 mbar vakuumitasoon. Helppokäyttöinen väri-LED-näyttö.

Lataa esite

SC7620
Sputterointi-/pinnoituslaite

  • Manuaalinen
  • Edullinen peruslaite
  • Metallipinnoitus


Helppokäyttöinen ja pienikokoinen sputterointilaite. Erillinen hiilipinnoituspää saatavana optiona.

Lataa esite
Soita 010 328 9980 ja kysy lisää Pyydä demo tai jätä yhteydenottopyyntö

SEM, FEG-SEM ja FIB-SEM elektronimikroskoopit

TESCANin (pyyhkäisy)elektronimikroskooppimallistosta löytyy sopiva laite kaikkiin sovelluksiin. Peruskuvantaminen hoituu luotettavilla ja edullisilla VEGA-mikroskoopeilla. CLARA-sarjan laitteet saavuttavat korkeamman resoluution ja paremman kuvanlaadun hyödyntämällä kenttäemissiolähdettä (FE-SEM). Ultrakorkean resoluution MAGNA-sarjassa kenttäemissiolähteen suorituskyky viedään äärimmilleen erityisen immersiolinssin avulla, mikä helpottaa myös eristävien näytteiden kuvantamista mahdollistamalla erittäin alhaisten kiihdytysjännitteiden käyttämisen.

HiVac tyhjiökammion lisäksi kaikkiin malleihin on saatavilla korkeammissa paineissa kuvaamiseen sopiva UniVac kammio (eli low + high vac), joka helpottaa esimerkiksi biologisten ja muiden nestepitoisten näytteiden kuvaamista.

FIB-SEM

AMBER- ja SOLARIS-sarjan elektronimikroskooppeihin on yhdistettävissä ionisuihku (FIB, Focused Ion Beam). Ionisuihkulla näytteistä saadaan poistettua materiaalia erittäin tarkasti. Tämän ansiosta näytteestä voidaan pinnan lisäksi kuvata myös poikkileikkaus tai valmistella leike läpivalaisuelektronimikroskoopille (TEM). Yhdistämällä ionisuihkuun esimerkiksi EDX-analysaattori, voidaan näytteen alkuainekoostumuksesta rakentaa 3D-kartta. Ionisuihku on erinomainen työkalu myös erilaisten nanorakenteiden valmistamiseen, sillä yhdessä kaasulähteen kanssa materiaalin poistamisen lisäksi sillä onnistuu myös materiaalin tarkka depositio.

TIMA-X

Tescan Integrated Mineral Analyzer on automaattinen mineraalien tunnistukseen ja karakterisointiin soveltuva elektronimikroskooppi. Se yhdistää BSE-kuvan ja EDS-analyysin, joiden avulla kaivosten ja malminetsinnän kivi- ja malminäytteet voidaan nopeasti tutkia ja niiden mineraalit tunnistaa.

QUORUM sputterointi- ja pinnoituslaitteet

Valikoimassa on sekä automaattisia että puoliautomaattisia laitteita kaikkiin pinnoitustarpeisiin.