SEM - Elektroni­mikroskoopit

Etusivu » SEM - Elektroni­mikroskoopit

Elektronimikroskooppi tutkimiseen

Valikoimamme sisältää W-SEM, FEG-SEM, FIB-SEM sekä 4D-STEM elektronimikroskooppeja materiaalien tutkimiseen ja analysointiin. Lisäksi näytteenvalmistukseen löytyy vaihtoehtoisia laitteistoja mm. näytteiden pinnoittamiseen (sputterointi ja hiilipinnoitus).

TESCANin kattavasta elektronimikroskooppi valikoimasta löytyy laitteisto kaikkiin tutkimus- tai analyysitarpeisiin. Valikoimassamme on termiseen emissioon perustuvia W-elektronilähteen laitteistoja, jotka ovat erityisen monipuolisia laitteistoja. Niitä voidaan hyödyntää niin pienissä kuin isommissa laboratorioissa, jos suurennostarve ei ole kovin suuri.

Tutustu VEGA-sarjan laitteisiin

Lisäksi valikoimasta löytyy kenttäemissioon perustuvia FEG-SEM laitteistoja sekä FIB-SEM laitteistoja. FEG-SEM laitteistoilla päästään huomattavasti suurempiin suurennoksiin ja pystytään havaitsemaan pienemmätkin partikkeli näytteistä. Laitteistot soveltuvat erityisesti pienistä yksityiskohdista kiinnostuneille käyttäjille. FIB-SEM laitteistojen hyöty konkretisoituu, kun kenttäemissiolaitteen suurennoskyvyn ja resoluution lisäksi tarvitaan mahdollisuus manipuloida näytettä. Esimerkkejä ovat TEM-näytteiden teko tai kun halutaan tutkia näytettä pintaa syvemmältä.

Tavallisten elektronimikroskooppien lisäksi valikoimassamme on 4D STEM laitteisto, jolla kyetään tutkimaan näytteen nanomittakaavan kemiallisia ja rakenteellisia ominaisuuksia.

Tutustu 4D STEM laitteistoon

Elektronimikroskopiaan kuuluu myös läheisesti näytteiden valmistus, yleisimmin näytteiden pinnoitus. Autamme mielellämme myös pinnoituslaiteratkaisujen kanssa. Quorum Technologies pinnoituslaitteisiin ja muihin näytteenvalmistus laitteistoihin voit tutustua täällä.

Lue lisää elektronimikroskoopeista

W-SEM

FEG-SEM

FIB-SEM

STEM

SEM tarvikkeet

Näytetään kaikki 16 tulosta

SEM, FEG-SEM JA FIB-SEM ELEKTRONIMIKROSKOOPIT

TESCANin (pyyhkäisy) elektronimikroskooppimallistosta löytyy sopiva laite kaikkiin sovelluksiin. Peruskuvantaminen hoituu luotettavilla ja edullisilla VEGA-mikroskoopeilla.

MIRA– ja CLARA-sarjan laitteet saavuttavat korkeamman resoluution ja paremman kuvanlaadun hyödyntämällä kenttäemissiolähdettä (FE-SEM). Ultrakorkean resoluution MAGNA-sarjassa kenttäemissiolähteen suorituskyky viedään äärimmilleen erityisen immersiolinssin avulla, mikä helpottaa myös eristävien näytteiden kuvantamista mahdollistamalla erittäin alhaisten kiihdytysjännitteiden käyttämisen.

HiVac tyhjiökammion lisäksi kaikkiin malleihin on saatavilla korkeammissa paineissa kuvaamiseen sopiva MultiVac kammio (eli low + high vac), joka helpottaa esimerkiksi biologisten ja varautuvien näytteiden kuvantamista.

FIB-SEM

AMBER- ja SOLARIS-sarjan elektronimikroskooppeihin on yhdistettävissä ionisuihku (FIB, Focused Ion Beam). Ionisuihkulla näytteitä voidaan manipuloida ja niistä saadaan poistettua materiaalia erittäin tarkasti. Tämän ansiosta näytteestä voidaan pinnan lisäksi kuvata myös poikkileikkaus tai valmistella leike läpivalaisuelektronimikroskoopille (TEM).

Yhdistämällä ionisuihkuun esimerkiksi EDX-analysaattori, voidaan näytteen alkuainekoostumuksesta rakentaa 3D-kartta. Ionisuihku on erinomainen työkalu myös erilaisten nanorakenteiden valmistamiseen, sillä yhdessä kaasulähteen kanssa materiaalin poistamisen lisäksi sillä onnistuu myös materiaalin tarkka depositio.

TIMA-X

Tescan Integrated Mineral Analyzer (TIMA) on automaattinen mineraalien tunnistukseen ja karakterisointiin soveltuva elektronimikroskooppi. Se yhdistää BSE-kuvan ja EDS-analyysin, joiden avulla kaivosten ja malminetsinnän kivi- ja malminäytteet voidaan nopeasti tutkia ja niiden mineraalit tunnistaa.

Ota yhteyttä ja kysy lisää

Finfocus Instruments Oy tuo maahan, myy ja huoltaa laitteita metallien, muiden materiaalien ja maaperän analysointiin, mittaamiseen, tutkimiseen sekä näytteiden käsittelyyn. Laitetoimitukseen sisältyy aina käyttökoulutus.

Finfocus Instruments Oy

Hiomotie 32
00380 Helsinki
info@finfocus.fi
010 328 9980

 

luotettava kumppani logo

tescan logo nenovision logo

quorum logo

metkon logo

 

 

Copyright © 2024 Finfocus Instruments Oy