Finfocus Instruments Oy Kirjaudu
Alkuaineanalysaattoreiden Käyttökohteet Kierrätysmateriaalien analyysi ja luokittelu PMI & Materiaalin tunnistus PIMA/raskasmetallien mittaus RoHS-analyysit Kaivos- ja malmianalyysit
Elektronimikroskooppien käyttökohteet Asbestin analysointi Biologiset näytteet Geologiset näytteet Materiaalitutkimus Puolijohdeteollisuus
Pintaa koestavien menetelmien käyttökohteet AFM - Biotieteet AFM - Elektroniikka AFM - Materiaalitutkimus Nano/Mikromanipulaattori - Elektroniikka Nano/Mikromanipulaattori - Materiaalitutkimus
Alkuaineanalyysi + XRF - analysaattorit
XRF - pöytälaitteet XRF - kannettavat
LIBS/Laser - analysaattorit OES - analysaattorit OES/XRF -näytteenvalmistus
Elektronimikroskopia Tescan SEM / VEGA-laitteet Tescan FEG-SEM Tescan FIB-SEM Quorum pinnoituslaitteet Tarvikkeet
Pintaa koestavat menetelmät NenoVision LiteScope AFM Imina mikro- ja nanokoestus
Metallografia ja näytteen valmistus + Kovuusmittarit
Rockwell Vickers Brinell Yhdistelmäkovuusmittarit Kannettavat kovuusmittarit Pinnankarheuden mittarit Kalvonpaksuuden mittarit
+ Metallografia
Automaattinen valmistus Katkaisulaitteet Muovituslaitteet Hionta-/kiillotuslaitteet Geologisille näytteille
+ Tarvikkeet näytteenvalmistukseen
Katkaisu Hionta Kiillotus Valuaineet Yleiset tarvikkeet
  1. Tuotteet
  2. Metallografia ja näytteen valmistus
  3. Tarvikkeet näytteenvalmistukseen
  4. Kiillotus

Kiillotus

Päivitämme tuotesivuja parhaillaan! Otathan yhteyttä asiantuntijoihimme, mikäli näytteenvalmistuksesta on mitään kysyttävää! Ota yhteyttä.

Soita 010 328 9980 ja kysy lisää Pyydä demo tai jätä yhteydenottopyyntö