Pintaa koestavat menetelmät

Etusivu » Pintaa koestavat menetelmät

Pintaa koestavat ja SEM-yhteensopivat menetelmät

Tuotevalikoimastamme löydät NenoVisionin laadukkaat atomivoimamikroskoopit sekä Imina Technologiesin mikro- ja nanokoestuslaitteistot (micro- ja nanoprobing).

Tuotteemme soveltuvat monipuolisesti tutkimukseen ja tuotteet ovatkin yhteensopivia elektronimikroskooppiemme (ja monien muidenkin) kanssa.

NenoVisionin atomivoimamikroskooppi LiteScope on suunniteltu asennettavaksi elektronimikroskoopin sisälle, jolloin näytteen analysointi voidaan tehdä korrelatiivisesti elektronimikroskoopin ja atomivoimamikroskoopin kanssa. Tällöin näytettä ei tarvitse siirtää, jolloin näyte säilyy koko analyysin ajan samassa ympäristössä eikä tarvitse pelätä näytteen ominaisuuksien muuttumista tai kontaminaatiota.

Iminan nanokoestuslaitteisto on myös suunniteltu asennettavaksi elektronimikroskooppiin mutta valikoimasta löytyy myös MICRO tuoteperhe, joka on tarkoitettu valomikroskooppien kanssa käytettäväksi. MICRO tuoteperheen laitteistot on päivitettävissä NANO perheeseen, jolloin niiden resoluutio paranee ja ne soveltuvat paremmin elektronimikroskooppikäyttöön.

NenoVision Litescope AFM-in-SEM

Imina MiBOT Mikro- ja nanomanipulaattorit

Näytetään kaikki 4 tulosta

Finfocus Instruments Oy tuo maahan, myy ja huoltaa laitteita metallien, muiden materiaalien ja maaperän analysointiin, mittaamiseen, tutkimiseen sekä näytteiden käsittelyyn. Laitetoimitukseen sisältyy aina käyttökoulutus.

Finfocus Instruments Oy

Hiomotie 32
00380 Helsinki
info@finfocus.fi
010 328 9980

 

luotettava kumppani logo

tescan logo nenovision logo

quorum logo

metkon logo

 

 

Copyright © 2024 Finfocus Instruments Oy