Etusivu » Tuotteet » Tescan Elektronimikroskoopit » FIB-SEM

GAIA FIB-SEM Elektronimikroskooppi

  • MAIAan perustuva FIB
  • Gallium-lähde
  • FIBin resoluutio: 2.5nm@30kV

Ionilähteenä on yleisimmin käytetty Gallium-lähde. Gallium-ionisuihkulla saavutetaan loistava tarkkuus ja hyvä työstönopeus.