Finfocus Instruments Oy Kirjaudu
Alkuaineanalysaattoreiden Käyttökohteet Kierrätysmateriaalien analyysi ja luokittelu PMI & Materiaalin tunnistus PIMA/raskasmetallien mittaus RoHS-analyysit Kaivos- ja malmianalyysit
Elektronimikroskooppien käyttökohteet Asbestin analysointi Biologiset näytteet Geologiset näytteet Materiaalitutkimus Puolijohdeteollisuus
Pintaa koestavien menetelmien käyttökohteet AFM - Biotieteet AFM - Elektroniikka AFM - Materiaalitutkimus Nano/Mikromanipulaattori - Elektroniikka Nano/Mikromanipulaattori - Materiaalitutkimus
Alkuaineanalyysi + XRF - analysaattorit
XRF - pöytälaitteet XRF - kannettavat
LIBS/Laser - analysaattorit OES - analysaattorit OES/XRF -näytteenvalmistus
Elektronimikroskopia Tescan SEM / VEGA-laitteet Tescan FEG-SEM Tescan FIB-SEM Quorum pinnoituslaitteet Tarvikkeet
Pintaa koestavat menetelmät NenoVision LiteScope AFM Imina mikro- ja nanokoestus
Metallografia ja näytteen valmistus + Kovuusmittarit
Rockwell Vickers Brinell Yhdistelmäkovuusmittarit Kannettavat kovuusmittarit Pinnankarheuden mittarit Kalvonpaksuuden mittarit
+ Metallografia
Automaattinen valmistus Katkaisulaitteet Muovituslaitteet Hionta-/kiillotuslaitteet Geologisille näytteille
+ Tarvikkeet näytteenvalmistukseen
Katkaisu Hionta Kiillotus Valuaineet Yleiset tarvikkeet

Kiitos osallistumisesta Finfocuksen SEM ja AFM -päiville 2020

2020-02-03 10:48:48

Finfocuksen ensimmäiset SEM ja AFM päivät 2020 saivat upean vastaanoton lähes 40:llä vieraallaan. Finfocus Instruments Oy kiittää kaikkia osallistuneita ja toivottaa menestyksekästä vuotta 2020!

  

Muistathan antaa palautetta tapahtumasta ja sen järjestelyistä, jotta voimme tarvittaessa parantaa tapahtumaa seuraaville kerroille. Palautteen voi antaa täällä: https://finfocus.fi/otayhteyttä

  

Kuvan kuvausta ei ole saatavilla.Kuvan kuvausta ei ole saatavilla.Kuvan mahdollinen sisältö: ainakin yksi henkilö ja sisätila

Kuvan mahdollinen sisältö: ihmiset istuvat, näyttö, toimisto ja sisätila