Hitachi Alkuaineanalysaattorit

Suodata tuotteita:

XRF-, LIBS- ja OES-analysaattorit (pöytämalliset ja kannettavat) materiaalien alkuainekoostumuksen määrittämiseen.

XRF-analysaattoreilla voi analysoida materiaaleja eri muodoissa: kiinteitä, jauhemaisia ja nestemäisiä näytteitä. Alkuainealue Mg - U.


Lue lisää

X-MET8000 Smart
XRF-analysaattori

  • Tehokas peruslaite
  • Alkuaineet K – U
  • Röntgenputki 40 kV

Smart on perustyökalu, jolla saa kaikki raskaat alkuaineet nopeasti analysoitua (Ei Mg, Al, Si). Metallilaatujen tunnistus onnistuu luotettavasti laajan tunnistuskirjaston avulla.

Lataa esite

X-MET8000 Optimum
XRF-analysaattori

  • Kaikille metallilaaduille
  • Alkuaineet Mg – U
  • Röntgenputki 40 tai 50 kV

Optimumilla saa analysoitua myös alkuaineet Mg, Al ja Si, jolloin Al- ja Mg-seosten analysointi helpottuu, sekä mm. määritettyä piin (Si) teräksissä. Soveltuu hyvin pinnoitteiden määrän/paksuuden mittaamiseen.

Lataa esite

X-MET8000 Expert
XRF-analysaattori

  • Monipuolisin XRF
  • Alkuaineet Mg – U
  • Röntgenputki 50 kV

Expert analysoi kattavan valikoiman alkuaineita. Se voidaan kalibroida sovelluskohtaisesti, omilla näytesarjoilla, jolloin analyysitarkkuus saadaan optimoitua. Expertillä voi analysoida luotettavasti myös matalia pitoisuuksia (<0.1-0.2%). Vakiona kamera mittauskohtaan tähtäämiseen.

Lataa esite

X-MET8000 Geo - Soil
XRF-analysaattori

  • Maaperänäytteille
  • PIMA-mittauksiin
  • Röntgenputki 50 kV

Maaperän raskasmetalli-määrityksiin (mm. V, Cr, Ni, Cu, Zn, As, Cd, Hg, Pb). Erittäin luotettava ja stabiili laite vaativiin kenttämittauksiin. GPS:llä talteen mittauskohdan koordinaatit ja tulosten tallennus suoraan pilveen.

Lataa esite

X-MET8000 Geo - Soil/Mining XRF-analysaattori

  • Malminetsintään
  • Malmien analysointiin
  • Röntgenputki 50 kV

Kattava valikoima alkuaineita kalibroituna valmiiksi, myös Mg, Al, Si. Tulokset saadaan myös suoraan oksidimuodossa. GPS:llä talteen mittauskohdan koordinaatit ja tulosten tallennus suoraan pilveen.

Lataa esite

X-MET8000 CG (RoHS)
XRF-analysaattori

  • RoHS-mittauksiin
  • Cd, Cr, Pb, Hg, As analyysi
  • Kamera tähtäykseen

Kalibroitu valmiiksi RoHS-direktiivissä määriteltyjen alkuaineiden mittaukseen. Valmiit hyväksymis/hylkäysrajat värikoodeineen helpottavat tulokset tulkintaa. Kameran avulla voi tähdätä tarkasti mittauskohtaan.

Lataa esite

Lab-X5000
XRF-analysaattori

  • Alkuainealue Mg - U
  • 1 näyte kerrallaan
  • Kosketusnäyttö

Erittäin helppo käyttää rutiinimittauksiin. Luotettava ja hyvä pitkän ajan stabiilisuus.

Lab-X5000:lla voi tehdä mittauksia standardien ASTM D4294, ISO 8754 ja ISO 20847 mukaisesti.

X-Supreme
XRF-analysaattori

  • Alkuainealue Na - U
  • 10 näytteen näytetarjotin
  • Windows käyttöjärjestelmä

Helppokäyttöinen, luotettava ja monipuolinen XRF-analysaattori moniin käyttökohteisiin.

X-Supremelle voi tehdä mittauksia standardien ASTM D4294, ISO8754, ISO20847 ja ISO13032 mukaisesti.

X-Strata920
pinnoitteiden mittaamiseen

  • Alkuainealue Ti – U / Al - U
  • Pöytä kiinteä tai moottoroitu


Max näytekoko 270 x 500 x 150 mm

FT150
pinnoitteiden mittaamiseen

  • Alkuainealue Al – U
  • SDD detektori
  • suurille näytteille

Erittäin suuri mittauskammio, näytteen max koko 600 x 600 x 20 mm. Täysin moottoroitu mittauspöytä.

Soita 010 328 9980 ja kysy lisää Pyydä demo tai jätä yhteydenottopyyntö

Finfocus Instruments Oy edustaa Suomessa Hitachi High-Technologies Oy:n alkaineanalysaattoreita. Hoidamme laitteiden myynnin ja huollon sekä käyttäjien koulutuksen ja tuen.

X-MET XRF-analysaattorit on suunniteltu ja kehitetty Suomessa, Hitachin tuotekehityskeskuksessa Espoossa. Moni muistaa X-MET -analysaattorit Oxford Instruments Oy:n, Metorex Oy:n ja Outokumpu Oy:n ajoilta.

LIBS- ja OES-analysaattoreilla analysoidaan metalliseosten koostumus.