AFM - Materiaalitutkimus

Materiaalitutkimus kattaa lähes kaikki materiaalit mitä keksiä saattaa. Materiaalitutkimuksen pääperiaatteena on kuitenkin tutkia materiaalien ominaisuuksia ja niiden käyttömahdollisuuksia. Materiaalien ominaisuuksien selvittämiseen voidaan hyödyntää monia työkaluja ja mittamenetelmiä, mutta tiettyjen pintaominaisuuksien tutkimiseen atomivoimamikroskoopit ovat ehdotonta kärkeä.

Atomivoimamikroskoopit ovat joko kontaktissa tai hyvin läheisessä vuorovaikutuksessa näytteen kanssa. Tästä johtuen materiaalista saadaan tarkempaa ja myös kattavampaa informaatiota kuin verrattaessa esimerkiksi normaaliin kuvantamiseen esimerkiksi elektronimikroskoopeilla. Atomivoimamikroskoopilla on mahdollista tutkia erilaisia kemiallisia, fysikaalisia, sähköisiä sekä mekaanisia materiaalien ominaisuuksia, kuten: kalvojen paksuuksia, pinnan muotoja, pinnan karkeutta, pinnan magneettisuutta, sitkeyttä ja johtavuutta. Näiden lisäksi on olemassa monia muitakin käyttökohteita, joista kannattaakin olla yhteydessä Finfocuksen asiantuntijoihin.

Tuomme maahan ja myymme Oxford Instruments Asylum Researchin valmistamia atomivoimamikroskooppeja. Tuotevalikoima on nähtävillä alla. Mikäli kiinnostuit laitteistoista, niin älä epäröi ottaa yhteyttä meihin.

Jupiter XR
Atomivoimamikroskooppi

  • Huippuluokan AFM suurille näytteille
  • Suuri näytepidin (210mm)
  • BlueDriveTM vakiona

Suurikokoisille näytteille suunnattu atomivoimamikroskooppi monipuolisilla mittausmahdollisuuksilla.

Lataa esite

Cypher S
Atomivoimamikroskooppi

  • Nopea ja tarkka AFM
  • Ei näyteympäristön kontrollointia
  • Cypher sarjan perusmalli

Cypher mallisto on markkinoiden ehdotonta kärkeä. Cypher S on suunnattu erityisesti materiaalitutkimuksiin normaaleissa olosuhteissa

Lataa esite

Cypher ES Environmental
Atomivoimamikroskooppi

  • Nopea ja tarkka AFM
  • Näyteympäristö kontrolloitu

 

 

Cypher S mallistosta päivitetty malli vaihtuvien ympäristön olosuhteiden kontrollointiin.

Lataa esite

Cypher ES Polymer edition
Atomivoimamikroskooppi

  • Nopea ja tarkka AFM
  • Näyteympäristö kontrolloitu

 

 

Cypher S mallistosta päivitetty malli vaihtuvien ympäristön olosuhteiden kontrollointiin.

Lataa esite

Cypher VRS
Atomivoimamikroskooppi

  • Nopea ja tarkka AFM
  • Näyteympäristö kontrolloitu
  • Videokuvausnopeus

 

Cypher malliston lippulaivamalli. Cypher VRS kykenee huippunopeaan AFM kuvantamiseen, jopa videotoistonopeudella.

Lataa esite

MFP-3D Origin
Atomivoimamikroskooppi

  • Edullinen perus-AFM
  • Laajat mittausmahdollisuudet

 

 

MFP-3D laitesarjan perusmalli jokapäiväiseen työskentelyyn.

Lataa esite

MFP-3D Origin+
Atomivoimamikroskooppi

  • Edullinen perus-AFM
  • Monipuoliset mittausmahdollisuudet

 

 

MFP-3D Origin laitemallin päivitetty versio monipuolisemmilla mittausmahdollisuuksilla.

Lataa esite

MFP-3D Infinity
Atomivoimamikroskooppi

  • Perus-AFM moneen käyttöön
  • Monipuolisimmat mittausmahdollisuudet

 

 

MFP-3D laitesarjan monipuolisin AFM. Laitteeseen sisältyy kaikki Origin ja Origin+ mittausmahdollisuudet vakiona.

Lataa esite

MFP-3D Bio
Atomivoimamikroskooppi

  • AFM biologisille näytteille
  • Integroitu valomikroskooppi

 

 

MFP-3D laitesarjan ainoa biologisille näytteille suoraan suunnattu atomivoimamikroskooppi. Laite tukee kaikkia Origin+ sarjan lisäosia.

Lataa esite
Soita 010 328 9980 ja kysy lisää Pyydä demo tai jätä yhteydenottopyyntö