AFM - Materiaalitutkimus

Materiaalitutkimus kattaa lähes kaikki materiaalit mitä keksiä saattaa. Materiaalitutkimuksen pääperiaatteena on kuitenkin tutkia materiaalien ominaisuuksia ja niiden käyttömahdollisuuksia. Materiaalien ominaisuuksien selvittämiseen voidaan hyödyntää monia työkaluja ja mittamenetelmiä, mutta tiettyjen pintaominaisuuksien tutkimiseen atomivoimamikroskoopit ovat ehdotonta kärkeä.

Atomivoimamikroskoopit ovat joko kontaktissa tai hyvin läheisessä vuorovaikutuksessa näytteen kanssa. Tästä johtuen materiaalista saadaan tarkempaa ja myös kattavampaa informaatiota kuin verrattaessa esimerkiksi normaaliin kuvantamiseen esimerkiksi elektronimikroskoopeilla. Atomivoimamikroskoopilla on mahdollista tutkia erilaisia kemiallisia, fysikaalisia, sähköisiä sekä mekaanisia materiaalien ominaisuuksia, kuten: kalvojen paksuuksia, pinnan muotoja, pinnan karkeutta, pinnan magneettisuutta, sitkeyttä ja johtavuutta. Näiden lisäksi on olemassa monia muitakin käyttökohteita, joista kannattaakin olla yhteydessä Finfocuksen asiantuntijoihin.

Tuomme maahan ja myymme NenoVisionin valmistamaa atomivoimamikroskooppia. Mikäli kiinnostuit laitteistoista, niin älä epäröi ottaa yhteyttä meihin.

NenoVision
LiteScope AFM

  • SEM kammioon asennettava
  • Resoluutio XYZ (nm): 0,2x0,2x0,04
  • Korrelatiivinen mikroskopiatekniikka

NenoVisionin LiteScope AFM on suunniteltu toimimaan elektronimikroskoopin kammiossa antaen mahdollisuuden korrelatiiviseen elektronimikroskopiaan (CPEM: Correlative Probe and Electron Microscopy). Tekniikalla on mahdollista helposti yhdistään elektronimikroskoopilta saatu tieto, mukaanlukien alkuainekoostumukset (EDS, WDS) ja atomivoimamikroskoopilta saatu tieto, kuten topografia tai sahköisiä ominaisuuksia.

Lataa esite
Soita 010 328 9980 ja kysy lisää Pyydä demo tai jätä yhteydenottopyyntö