AFM - Elektroniikka

NenoVision
LiteScope AFM

• SEM kammioon asennettava
• Resoluutio XYZ (nm): 0,2x0,2x0,04
• Korrelatiivinen mikroskopiatekniikka

NenoVisionin LiteScope AFM on suunniteltu toimimaan elektronimikroskoopin kammiossa antaen mahdollisuuden korrelatiiviseen elektronimikroskopiaan (CPEM: Correlative Probe and Electron Microscopy). Tekniikalla on mahdollista helposti yhdistään elektronimikroskoopilta saatu tieto, mukaanlukien alkuainekoostumukset (EDS, WDS) ja atomivoimamikroskoopilta saatu tieto, kuten topografia tai sahköisiä ominaisuuksia.