AFM - Elektroniikka

NenoVision
LiteScope AFM

  • SEM kammioon asennettava
  • Resoluutio XYZ (nm): 0,2x0,2x0,04
  • Korrelatiivinen mikroskopiatekniikka

NenoVisionin LiteScope AFM on suunniteltu toimimaan elektronimikroskoopin kammiossa antaen mahdollisuuden korrelatiiviseen elektronimikroskopiaan (CPEM: Correlative Probe and Electron Microscopy). Tekniikalla on mahdollista helposti yhdistään elektronimikroskoopilta saatu tieto, mukaanlukien alkuainekoostumukset (EDS, WDS) ja atomivoimamikroskoopilta saatu tieto, kuten topografia tai sahköisiä ominaisuuksia.

Lataa esite
Soita 010 328 9980 ja kysy lisää Pyydä demo tai jätä yhteydenottopyyntö