W-SEM

Etusivu » SEM - Elektroni­mikroskoopit » W-SEM

TESCAN VEGA-sarjan W-SEM elektronimikroskoopit

VEGA 4 sarjan elektronimikroskoopit (SEM) ovat luotettavia ja edullisia peruslaitteistoja. VEGA 4 sarjan laitteissa hyödynnetään termiseen emissioon perustuvaa wolframi (W) elektronilähdettä.

VEGA 4 sarjan elektronimikroskoopit pääsevät kaikki samoihin resoluutio alueisiin riippumatta mallista (Compact/LM/GM). Parhaimmillaan voidaan päästä jopa 3nm resoluutioon 30keV kiihdytysjännitteellä ja pienemmälläkin kiihdytysjännitteellä 3keV saavutetaan vielä 8nm resoluutio. Lisäksi kaikissa malleissa on täysin moottoroitu 5-akselinen (X, Y, Z, pyöritys sekä kallistus) näytepöytä, joka mahdollistaa kammiokoosta riippuen, jopa 8kg painoisen näytteen liikuttelun (X, Y, Z).

VEGA 4 sarjan laitteisiin on tuotu uusi, Tescanin muissa elektronimikroskoopeista tutuksi tullut Essence ohjelmisto, joka mahdollistaa laitteiston kokonaisvaltaisen hyödyntämisen käyttäjäystävällisesti. Ohjelmistoon on mahdollista ohjelmoida erillisiä käyttäjäprofiileita jokaiselle käyttäjälle ja luoda esitallennettuja kuvausproseduureja eri tyyppisille näytteille

Näytetään kaikki 2 tulosta

Tescan VEGA 4 LM/GM

VEGA 4 sarjan elektronimikroskoopeista on saatavilla kaksi eri kammiokokoista mallia. LM kammiokoko kattaa useimmat normaaliksi luokiteltavat näyte koot, sillä kammion sisähalkaisija on 230mm. LM kammioon on mahdollista asettaa 145x145mm kokoinen näyte. GM kammio on suunniteltu huomattavasti suuremmille näytteille, jolloin näytteiden valmistukselle jää hieman enemmän vaihtoehtoja. GM kammion koko on 340x315mm ja kammioon on mahdollista asettaa 335x310mm kokoinen näyte.

Molempiin laitemalleihin (eri kammiokokoihin) on saatavilla kaksi erilaista kuvantamiskokonaisuutta: SingleVac ja MultiVac. Standardi laitteisto sisältää SingleVac ominaisuuden, joka mahdollistaa heikosti johtavien näytteiden kuvaamisen. SingleVac ominaisuutta käyttämällä on mahdollista nostaa elektronimikroskoopin kammiopaine noin 30 Pascaliin, jolloin heikosti johtavien näytteiden varautuminen saadaa kompensoitua ja näytteet voidaan kuvata. Erittäin huonosti johtavien näytteiden kanssa käytettävä MultiVac mahdollistaa kammiopaineen säätämisen portaattomasti 7 – 500 Pascalin välillä. MultiVac mahdollistaa herkkien, johtamattomien näytteiden kuvantamisen ilman pinnoitusta.

Molempiin kammiovaihtoehtoihin on mahdollista asentaa kolmannen osapuolen lisälaitteita, kuten EDS-, WDS- ja EBSD-detektoreita. Lisälaitteiden määrää rajoittaa kammiossa olevien porttien määrä, joita on LM kammiossa 12+ ja GM kammiossa 20+. Uutuutena laitteistoissa voidaan hyödyntää Tescanin omaa integroitua Essence EDS-detektorioptiota, jolloin kolmannen osapuolen EDS-detektorin ja ohjelmiston hankinta ei ole välttämätöntä.

Tescan VEGA 4 Compact

VEGA 4 Compact vastaa kokoluokaltaan LM kammiokoon laitetta. Kammioon mahtuu 145x145mm kokoinen näyte, jolloin laitteistoa pystytään hyödyntämään useimpien elektronimikroskooppinäytteiden kanssa. Compact malli on hieman riisutumpi versio LM/GM mallin laitteistoista, sillä Compact malli on niin sanottu korkean vakuumin elektronimikroskooppi, johon ei ole saatavilla SingleVac tai MultiVac ominaisuutta. Tämän takia Compact malli soveltuukin johtavien näytteiden kuvantamiseen. Huonosti johtavien näytteiden kanssa on suositeltavaa hyödyntää pinnoitusta, jollakin johtavalla materiaalilla.

Compact malliin on mahdollista asentaa, joko kolmannen osapuolen EDS-detektori tai Tescanin oma integroitu Essence EDS.

Mikäli VEGA 4 sarjan elektronimikroskoopeista on mitään kysyttävää, niin älä epäröi ottaa yhteyttä Finfocuksen asiantuntijoihin!

Finfocus Instruments Oy tuo maahan, myy ja huoltaa laitteita metallien, muiden materiaalien ja maaperän analysointiin, mittaamiseen, tutkimiseen sekä näytteiden käsittelyyn. Laitetoimitukseen sisältyy aina käyttökoulutus.

Finfocus Instruments Oy

Hiomotie 32
00380 Helsinki
info@finfocus.fi
010 328 9980

 

luotettava kumppani logo

tescan logo nenovision logo

quorum logo

metkon logo

 

 

Copyright © 2024 Finfocus Instruments Oy